检索首页
阿拉丁已为您找到约 5092条相关结果 (用时 0.0035509 秒)

lED芯片寿命试验

介绍了lED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

lED芯片寿命试验

介绍了lED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

lED芯片寿命试验

介绍了lED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

lED芯片寿命试验

介绍了lED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

lED芯片寿命试验

介绍了lED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

lED路灯驱动芯片!!!

sn3352 是dc-dc降压类型高效率的lED驱动芯片,带温度补偿功能,输出电流高达700ma,芯片耐压40v,该封装尺寸小,发热少,是一款高端lED路灯应用方案。与lm340

  http://blog.alighting.cn/xinmylily/archive/2009/6/30/4259.html2009/6/30 12:38:00

lED芯片常识

5w-300w是集成芯片,用串/并联封装,主要看多少电流,电压,几串几并。1w 红光 亮度一般为30-40 lm; 1w 绿光亮度一般为60-80 lm; 1w 黄光 亮度一般为3

  http://blog.alighting.cn/www.nengzhaoled.com/archive/2012/4/28/273236.html2012/4/28 14:34:07

cree芯片lED

8)和大功率lED(1w-3w)。该类lED采用cree芯片,采用专利荧光粉。产品可销往日本,北美和欧洲市场。 产品参数:常规3528单芯白光(6-7lm,10*23芯片)。505

  http://blog.alighting.cn/SUNLIGHTLCP/archive/2011/4/12/165025.html2011/4/12 13:02:00

lED芯片制造流程

对lED pn结的两个电极进行加工。电极加工也是制作lED芯片的关键工序,包括清洗、蒸镀、黄光、化学蚀刻、熔合、研磨;然后对lED毛片进行划片、测试和分选,就可以得到所需的lED

  http://blog.alighting.cn/mule23/archive/2008/12/2/9371.html2008/12/2 14:14:00

恒流源驱动芯片!!

流驱动芯片,可以驱动10颗单灯1w和3w的lED,最大的驱动功率高达30w(10个3w lED串联),sn3350的效率高达95%,外围器件简单,只需要一个电阻,一个二极管,一个电

  http://blog.alighting.cn/xinmylily/archive/2009/6/30/4260.html2009/6/30 12:39:00

首页 上一页 2 3 4 5 6 7 8 9 下一页