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labsphere新加led精确测量系统

2006年9月20日,美国新罕布什尔州的labsphere宣布其slms led系统又添新成员-slms led xx51系列。

  https://www.alighting.cn/news/20060921/103001.htm2006/9/21 0:00:00

led蓝光危害的评级及测量标准

为满足各种应用情况,iec 62471规定,蓝光危害应根据发光面最大亮度区域在最大辐射强度方向上的曝辐值(加权辐照度以及加权辐亮度)进行安全等级分类。

  https://www.alighting.cn/news/20160504/139938.htm2016/5/4 9:39:04

gb7000.1蓝光危害测量即将强制,再也不担心led蓝光危害了

由于关系到人体健康问题,国内外各大标准化组织对蓝光问题进行了大量的研究,在标准iec62471-2006、iectr62778中详细介绍了蓝光危害的评价方法,并对蓝光危害的等级进行

  https://www.alighting.cn/news/20161117/146158.htm2016/11/17 10:07:56

投光灯具的热试验测量

投光灯具的热试验测量

  https://www.alighting.cn/news/200728/V12339.htm2007/2/8 11:21:44

照明用led光电特性及其测量仪器(图)

针对led特殊的光电特性,并按照国际照明委员会(cie)的要求,浙大三色公司在led芯片、led封装、组合led灯具及材料测试等方面研制出了一系列极具特色的测试仪器,较好地解决了照

  https://www.alighting.cn/news/200872/V16381.htm2008/7/2 13:53:37

纳米材料与器件的电气测量方法

纳米材料与器件的电气测量方法

  https://www.alighting.cn/news/200728/V12363.htm2007/2/8 11:52:46

稀土荧光粉标准测量仪器研讨会结束

2007年10月31日,由全国稀土标准化技术委员会主办,杭州远方光电信息有限公司(下简称“杭州远方”)承办的全

  https://www.alighting.cn/news/20071123/V11493.htm2007/11/23 11:11:18

lb/t 001-2008 整体式led路灯的测量方法

本推荐性技术规范由国家半导体照明工程研发及产业联盟提出。本推荐性技术规范由国家半导体照明工程研发及产业联盟归口管理。

  https://www.alighting.cn/news/20110518/109525.htm2011/5/18 17:42:51

光学反射式分布测量技术浅析

介绍了以光时域反射仪(otdr)为代表的光学链路连续分布参数的的反射式测量技术。在阐明otdr基本测量原理和实现方式的基础上,着重讨论了时域相关测量,频域测量和干涉测量技术各

  https://www.alighting.cn/news/2007210/V7915.htm2007/2/10 11:48:54

多元化应用催熟国内光测量市场 群燿科技力推行业健康发展

在群燿科技展馆里,ofweek半导体照明网有幸采访到群燿科技董事长杜明达先生,他向我们讲述了对中国光测量市场的理解以及群燿科技对在国内市场的策略。

  https://www.alighting.cn/news/20170714/151715.htm2017/7/14 14:15:20

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