检索首页
阿拉丁已为您找到约 17772条相关结果 (用时 0.0125911 秒)

led芯片及led器件的测试分选

led的分选有两种方法:一是以芯片为基础的测试分选,二是对封装好的led进行测试分选。

  https://www.alighting.cn/resource/20141230/123832.htm2014/12/30 9:32:03

led芯片及器件的分选测试

本文主要介绍led芯片及器件的分选测试,led的分选有两种方法:一是以芯片为基础的测试分选,二是对封装好的led进行测试分选。

  https://www.alighting.cn/2013/7/18 16:24:50

基于芯片测试的环路滤波器设计

以adf4153小数分频频率合成器为例,研究了其外围环路滤波器的设计方法,给出了基于芯片测试的环路滤波器设计流程,并进行了验证测试测试结果表明,该滤波器可满足小数分频频率合成

  https://www.alighting.cn/2014/11/5 11:01:08

基于fpga实现逻辑芯片的功能故障测试

在最原始的测试过程中,对集成电路(integrated circuit,ic)的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率

  https://www.alighting.cn/2014/12/25 10:08:15

中经合注资台晶测电子:加大led芯片测试服务

据悉,晶测电子是一家专注于提供led芯片测试优化服务的公司,源于上市集团台湾致茂电子(tpe:2360),现成为独立实体公司,在亚洲提供该服务方面处于领先地位。中经合这次的注资将

  https://www.alighting.cn/news/20100310/120477.htm2010/3/10 0:00:00

sj/t××××-2××× 半导体发光二极管芯片测试方法(报批稿)

半导体发光二极管芯片测试方法(报批稿),本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。本标准由半导体照明技术标准工作组组织起草。

  https://www.alighting.cn/news/20110712/110112.htm2011/7/12 11:26:28

全方位解析led芯片寿命测试

中,需要通过寿命试验对led芯片的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高led芯片的可靠性水平,以保证led芯片质量,为此在实现全色系led产业化的同时,开发了led芯片寿命试

  https://www.alighting.cn/resource/2014/3/14/111042_48.htm2014/3/14 11:10:42

ic测试基本原理与ate测试向量生成

集成电路测试(ic测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。

  https://www.alighting.cn/resource/20141216/123917.htm2014/12/16 10:02:34

led芯片的寿命试验过程

led具有高可靠性和长寿命的优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验对led芯片的可靠性水平进行*价,并通过质量反馈来提高led芯片的可靠性水平,以保证led芯片质量,为

  https://www.alighting.cn/resource/20120719/126504.htm2012/7/19 13:43:19

东莞企业突破led芯片测试与分选技术难题

一度困扰国内led行业芯片测试与分选的技术难题,日前被莞企打开了突破口。昨日,广东志成华科光电设备有限公司(以下简称志成华科)透露,其成功研发设计了led芯片自动测试与分选设备,

  https://www.alighting.cn/news/2011711/n520033069.htm2011/7/11 8:31:21

1 2 3 4 5 6 下一页