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看芯片可测试性设计(图)

随著芯片的整合度越来越高、尺寸越来越小,内部的复杂度也随之不断上升,半导体制程中可能各种失效状况、材料的缺陷以及制程偏差等,都有可能导致芯片中电路连接的短路、断路以及元件穿隧效应等

  https://www.alighting.cn/resource/20071211/V13118.htm2007/12/11 9:11:52

dialux evo加强版测试软件下载

dialux evo 提供用户一个全新的体验,以空间为基础的灯光设计已经过时了,现在以建筑物为主,加上外部的效果做为考虑,欢迎下载体验。

  https://www.alighting.cn/resource/2012/4/24/16318_87.htm2012/4/24 16:31:08

供应照明灯具电参数测试

  http://blog.alighting.cn/gastled/archive/2009/11/27/20428.html2009/11/27 10:32:00

cob封装的测试解决方案探讨

以cob(chip on board)方式封装的led器件以其特有的优势发展迅速。这种集成封装工艺已经拓展出包括mcob、mlcob、cof、commb等多种形式,无论是光效还是散

  https://www.alighting.cn/2014/1/2 0:15:48

探讨cob封装的测试解决方案

近年来,以cob(chip on board)方式封装的led器件以其特有的优势发展迅速。这种集成封装工艺已经拓展出包括mcob、mlcob、cof、commb等多种形式,无论是光

  https://www.alighting.cn/resource/20131024/125199.htm2013/10/24 11:03:41

led照明灯具安全性能测试解析

电气安全性能的测量仪器在当代科学技术的迅速发展,各种电器、电子设备全面进入社会生活各个领域,成为社会文明进步的重要标志。

  https://www.alighting.cn/resource/20150723/131211.htm2015/7/23 10:05:45

7637汽车电磁兼容测试系统(13814855899)

企业名称 苏州泰思特电子科技有限公司(汽车电子电磁兼容设备生产厂家) 联 系 人 娄军 企业类型 生产型企业 电子邮箱 1710101

  http://blog.alighting.cn/sztest/archive/2010/5/26/46183.html2010/5/26 11:47:00

en62471光生物安全测试标准

  https://www.alighting.cn/resource/20160301/137461.htm2016/3/1 16:15:09

看芯片可测试性设计(图)

随著芯片的整合度越来越高、尺寸越来越小,内部的复杂度也随之不断上升,半导体制程中可能各种失效状况、材料的缺陷以及制程偏差等,都有可能导致芯片中电路连接的短路、断路以及元件穿隧效应等

  https://www.alighting.cn/news/20071211/V13118.htm2007/12/11 9:11:52

[测试标准]日本《照明用白色led测光方法通则》测试标准

日本四团体共同制定的《照明用白色led测光方法通则》为目前唯一针对照明用白光发光二极管(led)所制定的测量标准,本文将对其内容进行介绍及分析,以供读者及有关产、学、研部门参考。

  https://www.alighting.cn/news/20091215/V22161.htm2009/12/15 8:52:47

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