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LED灯珠对LED显示屏品质的影响

对于全彩LED显示屏,LED灯珠作为其最关键的部件,LED灯珠的品质对LED显示屏的品质起着很重要的决定作用。

  https://www.alighting.cn/resource/20130711/125463.htm2013/7/11 11:43:36

三星推出全新加强型csp LED器件 适用于射灯和高棚灯等应用

三星电子近期推出两款全新的加强型csp (芯片级封装器件)LED 产品:lm101b(1w 级中功率 LED)和 lh231b(5w 级大功率 LED)。

  https://www.alighting.cn/pingce/20170925/152892.htm2017/9/25 10:17:28

台厂巨虹电子接获欧洲大额LED台灯订单

近日,台湾巨虹电子(8084)接获欧洲LED台灯订单,规模约数万盏,金额达新台币上亿元。除LED台灯外,巨虹也有机会在2008年3月底前,再接获国际大厂的LED路灯订单。

  https://www.alighting.cn/news/20080317/118256.htm2008/3/17 0:00:00

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据LED

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

LED照明疯狂背后面临的挑战

质与传统照明相比仍有差距;效表现还有部分应用无法覆盖;由于LED照明可靠性由芯片、电、、热、机械、互联部分等多个因素决定,因此无法保持足够的输出流明维持寿命;由于缺乏统一标

  http://blog.alighting.cn/lanjianghong/archive/2011/4/19/166170.html2011/4/19 17:09:00

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