检索首页
阿拉丁已为您找到约 20925条相关结果 (用时 0.0142935 秒)

华灿光电:芯片与封装应用的匹配是倒装行业难点

装技术与产品开发部经理张威先生来到新闻直播现场,与大家共同探讨led倒装芯片技术的发展前

  https://www.alighting.cn/news/20170703/151465.htm2017/7/3 10:38:30

深度评测:挖掘蓝海市场 红芯片性能能否堪当大任

晶元光电持续热推的型号es-sasfpn42d红芯片产品,曾“创下全世界发光效率最高的实验室纪录”而引发关注,最近我们拿到20个该型号样品,为一探究竟,我们将样品纳入这一期的测

  https://www.alighting.cn/pingce/20161130/146468.htm2016/11/30 19:12:35

led芯片价格将降10%,资进入本土企业

计led芯片价格将下降5-10%。专利到期可能降低许可费,并在未来六个月使价格保持稳

  https://www.alighting.cn/news/20100825/92612.htm2010/8/25 0:00:00

sdk将扩产超亮led芯片至每月2亿片

日,sdk投资12亿日元增加其chichibu工厂algainp超亮led芯片产量,计划到2008年底产量由现在的每月1亿只提高到每月2亿只,用于应对户显示屏和车用市场日益扩大的需

  https://www.alighting.cn/news/20071214/118451.htm2007/12/14 0:00:00

兆驰变更部分募集资金用途,10亿改投led芯片

容云平台”募集资金100,000万元,并投入到新项目“led芯片生产项目

  https://www.alighting.cn/news/20170907/152620.htm2017/9/7 9:34:55

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

首页 上一页 108 109 110 111 112 113 114 115 下一页