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led芯片寿命试验

成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因素,这一点对光参

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

大功率led的热量分析与设计

阻的主要方法有:红外微象法,电压参数法,还有光谱法,光热阻扫描法及光功率法。其中电压法测量led热阻最常用。 一. led热的产生、传导和疏散  与传统光源一样,半导体发

  http://blog.alighting.cn/Haidee/archive/2010/11/20/115543.html2010/11/20 23:43:00

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

照明行业,当老师的都有谁?(原创)

旦大学从事光源与照明的教学和科研工作。(周太明老师博客)   9、光度测量专家宋贤杰      主要讲授本科《光辐射测量》课程,及研究生的教学工作,并得到了飞亚、g

  http://blog.alighting.cn/nianhua/archive/2012/10/19/293619.html2012/10/19 21:15:29

照明行业,当老师的都有谁?(原创)

旦大学从事光源与照明的教学和科研工作。(周太明老师博客)   9、光度测量专家宋贤杰      主要讲授本科《光辐射测量》课程,及研究生的教学工作,并得到了飞亚、g

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