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[转载]广州亮化设计——led照明将往创新和产业化技术方向发展

w以后, 技术将分为两个方向发展,即创新技术的发展方向和产业化技术的发展方向。 2011中国(上海)国际半导体照明应用技术论坛于2011年7月6日在上海尊域喜马拉雅酒店隆

  http://blog.alighting.cn/quanlubiaoshi/archive/2011/7/8/229310.html2011/7/8 10:54:00

广州市照明建设管理中心总工程师丘玉蓉:智慧照明的安全探讨

理中心总工程师丘玉蓉做了主题为“智慧照明的安全探讨”的精彩演讲。广州市照明建设管理中心总工程师丘玉蓉丘玉蓉女士首先从质量方面简单分析如何保障智慧路灯的质量问

  https://www.alighting.cn/news/20160610/141004.htm2016/6/10 11:09:00

[转载]亮化设计——高光环艺岳存泽:灯光设计于照明系统的重要

们的生活需要时,情感需求进而成为对灯光的更高层次的要求。“在整个照明系统设计中,led灯比卤素灯更具可塑”,高光环艺总经理岳存泽先生在接受中国led网采访时如是说。 北京

  http://blog.alighting.cn/quanlubiaoshi/archive/2011/7/5/228609.html2011/7/5 9:34:00

led芯片寿命 试验方法

的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。 1、引言 作为电子元器件,发光二极

  http://blog.alighting.cn/tyqtyq/archive/2009/5/16/3426.html2009/5/16 18:50:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。   1、引言   作为电子元器件,发光二极

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

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