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led寿命试验法

.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件: ●样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; ●工作电流为30ma; ●环境条件为室温(25℃±5℃); ●试验周期为96小时

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143401.html2011/3/17 21:37:00

led寿命试验法

.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件: ●样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; ●工作电流为30ma; ●环境条件为室温(25℃±5℃); ●试验周期为96小时

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143403.html2011/3/17 21:38:00

led照明与功率因数关系解析

w的有功功率了;若功率因数为0.9,则能供出90kw的有功功率,可见提高功率因数很有意义。  2)输电线路由于无功电流存在,增加了输电线路损耗。例如功率因数为0.7,要供出70kw的有

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143435.html2011/3/17 21:57:00

led寿命试验法

.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件: ●样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; ●工作电流为30ma; ●环境条件为室温(25℃±5℃); ●试验周期为96小时

  http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00

led百科

要是电子。但这两种半导体连接起来的时候,它们之间就形成一个“p-n结”。当电流通过导线作用于这个晶片的时候,电子就会被推向p区,在p区里电子跟空穴复合,然后就会以光子的形式发出能

  http://blog.alighting.cn/lanyunsz/archive/2011/7/6/228855.html2011/7/6 17:44:00

led外延的衬底材料有哪些

体质量,降低位错密度,提高器件工作寿命,提高发光效率,提高器件工作电流密度。但是制备gan体单晶非常困难,到目前为止还未有行之有效的办法。氧化锌zno之所以能成为gan外延的候选衬

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229923.html2011/7/17 23:18:00

led背光源制作工艺简介

机将电极连接到led管芯上,以作电流注入的引线。led直接安装在pcb上的,一般采用铝丝焊机。(制作白光top-led需要金线焊机)d、封装:通过点胶,用环氧将led管芯和焊线保

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229973.html2011/7/17 23:42:00

led控制装置标准中主要安全要求的识别及应用

命。另外,当荧光灯输出功率由强到弱调整时,灯电弧电流的减小会造成的灯阴极温度下降,使灯阴极达不到电子逸出功的温度(1000k~1100k),只有在电弧电流下调的同时相应加大灯丝电流才

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230101.html2011/7/18 23:46:00

深度解析:中国第一个led路灯照明标准

备的无线电骚扰特性的限值和测量方法gb17625.1-2003电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16a)kevsetpage=第3页 style="margin-top

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230110.html2011/7/18 23:50:00

led芯片寿命试验

件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件:● 样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯;● 工作电流为30ma;● 环境条件

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