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led室内照明的市场迷思与技术门槛

一般住宅专用的led照明,也必须考量到成本、散热与电路板面积等各项问题,相较于商用或是工业照明相对不在乎成本与体积小的情况下,一般住宅照明的技术门槛在此时更加显而易见。

  https://www.alighting.cn/news/20120615/89290.htm2012/6/15 10:15:33

我国led路灯技术发展的现状及问题分析

各国积极推动落实节能减排项目,尤其中国的led路灯因商机庞大而被受led路灯厂家重视。路灯是城市照明的重要组成部分,传统的路灯整体上光效低的缺点造成了能源的巨大浪费,因此,开发新型

  https://www.alighting.cn/news/20110527/90249.htm2011/5/27 11:19:57

ledion推可替代75~20w卤素灯泡的led灯

台湾高功率led灯源领导厂商雷笛扬ledion照明最新推出12w par30a led lamp、17w par38a led lamp、10w ar111f led lamp三款

  https://www.alighting.cn/news/20110309/115593.htm2011/3/9 9:23:32

照万物,日月同辉

稀土人,照明人,不忘初心,点土成金的神圣使命,吹响号角,勇立潮头,破浪前行,向新应用、心服务、特色化、高质量、严标准、重监管、低能耗、高能效、原生态、民意化,…新长征,再出发!

  https://www.alighting.cn/news/20200603/169092.htm2020/6/3 9:57:23

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

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