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led芯片的寿命试验过程

led具有高可靠性和长寿命的优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验led芯片的可靠性水平进行*价,并通过质量反馈来提高led芯片的可靠性水平,以保证led芯片质量,为

  https://www.alighting.cn/resource/20120719/126504.htm2012/7/19 13:43:19

大尺寸led背光源的热分析

料好20%以上。led背光源的温度场进行了实际测量,计算结果和实测温度相一致,证明所提出的分析方法是可

  https://www.alighting.cn/2012/5/21 10:17:30

led路灯准与关键技术探讨

d路灯成本高,一次性投入较大;技术规范与准的滞后;专业部门的思维定势一时难以扭转;还缺乏配套的扶持与鼓励政策;人们led的认识有个过程,包括部分专

  https://www.alighting.cn/2012/5/17 18:00:04

风光互补路灯照明系统蓄电池充电控制策略研究

两阶段充电方式,并利用双闭环pid 控制实现了蓄电池的恒压限流充电。通过该双闭环控制系统仿真研究,结果表明该模型合理有

  https://www.alighting.cn/resource/20120510/126567.htm2012/5/10 11:05:45

长寿命led驱动电路专用电解电容器应用特性介绍

命的要求,因而铝电解电容器成了led灯具驱动电源的瓶颈。本文经过王永明先生的许可,特发布在新世纪led网平台分享给大家,希望大家有所帮

  https://www.alighting.cn/2012/5/4 16:14:58

doe发布led路灯与高压钠灯比较测试报告

从2011年开始,doe市政固态街光财团(msslc)密苏里州堪萨斯城的九个ssl路灯进行了这一实验,实验揭示led的表现略胜高压钠灯。美国能源部(doe)在其网站上了公布了这

  https://www.alighting.cn/news/2013813/n392654945.htm2013/8/13 10:44:21

aql的意义及其确定方法

量水平aql的意义,重点连续批抽样计划设计过程中确定aql的原则、方法以及aql的分配做一介绍,供各位在工作过程中参

  https://www.alighting.cn/2012/3/31 14:39:29

浅析:led被静电击穿的现象及原因

在极短的瞬间(纳秒级)led芯片的两个电极之间进行放电,瞬间将在两个电极之间(阻值最小的地方,往往是电极周围)的导电层、发光层等芯片内部物质产生局部的高温,温度高达1400

  https://www.alighting.cn/2012/3/22 12:56:19

图形化衬底led芯片的技术研究

本文的主要研究内容涉及图形化衬底gan基led发光二极管光电性能的影响。实验中制作了表面图形直径和周期不同的gan图形衬底。再利用mocvd材料生长设备侧向外延生长了gan

  https://www.alighting.cn/resource/20120314/126666.htm2012/3/14 14:36:30

条形叉指n阱和p衬底结的硅led设计及分析

d发光显微图形及实际器件的版图,并在器件进行了正、反向i-v特性测试、光功率及光谱特性的测

  https://www.alighting.cn/resource/20120312/126682.htm2012/3/12 10:46:52

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