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本标准规定了电子测量仪器(以下简称产品)可靠性试验的基本要求与试验方法。 本标准适用于失效规律服从指数分布的产品的可靠性试验。
https://www.alighting.cn/news/20111104/109487.htm2011/11/4 14:59:51
《整体式led路灯的测量方法》推荐性技术规范作为全球首个专门针对于半导体照明特定应用产品的测量方法文本，于2008年7月1日由国家半导体照明工程研发及产业联盟(下简称“联盟”)发
https://www.alighting.cn/2013/3/1 11:46:08
本文为杭州浙大三色仪器有限公司王建平先生关于《led道路照明灯具的分布光度测量》的主题演讲，主要围绕分布光度计的基本功能，典型的几种分布光度计，以及led灯具分布光度测量探讨展
https://www.alighting.cn/2012/10/11 17:32:52
今天来探讨led外延片的成长工艺，早期在小积体电路时代，每一个6吋的外延片上制作数以千计的芯片，现在次微米线宽的大型vlsi，每一个8吋的外延片上也只能完成一两百个大型芯片。外延
https://www.alighting.cn/news/20080703/91561.htm2008/7/3 0:00:00
2015年9月17日报道，芬兰阿尔托大学和vtt技术研究中心的研究人员已经成功地开发了有助于降低led发光效率测量不确定度的方法，可将不确定度由目前的约5%降低至1%。
https://www.alighting.cn/news/20150922/132841.htm2015/9/22 9:19:51
目前商业化生产采用的是两步生长工艺，但一次可装入衬底数有限，6片机比较成熟，20片左右的机台还在成熟中，片数较多后导致外延片均匀性不够。发展趋势是两个方向：一是开发可一次在反应室
https://www.alighting.cn/resource/20100727/128331.htm2010/7/27 13:17:38
https://www.alighting.cn/news/2010531/V23876.htm2010/5/31 9:04:18
当高科超薄晶体霓虹发光片的两极间通电后，发光层内就建立了电场，电子在电场的作用下逆电场方向加速运动，当电场强度足够强，运动状态电子数量足够多，速度足够快时，通过碰撞，发光材料电
https://www.alighting.cn/resource/200759/V12521.htm2007/5/9 17:19:58
https://www.alighting.cn/news/200759/V12521.htm2007/5/9 17:19:58
大型光源的色度和亮度分布之所以难以测量，是因为光源尺寸以及测量所需的物理空间较大。在本文中，我们介绍一种在有限空间内测量大型光源的方法，它能够有效克服传统测量技术的限制。这种方
https://www.alighting.cn/resource/20140609/124532.htm2014/6/9 12:15:31
