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全面分析led灯具对低压驱动芯片的要求

明促使驱动芯片向创新设计发展,led照明灯具是离不开驱动芯片的,因此需要多种功能的led光源驱动ic。led灯具选用36v以下的交流电源可以考虑非隔离供电,如选用220v和100

  http://blog.alighting.cn/lanjianghong/archive/2011/4/12/165043.html2011/4/12 16:34:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

当今开关电源技术四大趋势

v输出大功率电源模块,其中pfc和pwm部分完全为数字式控制。现在,ti公司已经研发出了多款数字式pwm控制芯片。目前主要是ucd7000系列、ucd8000系列和ucd9000系

  http://blog.alighting.cn/kuaiguan/archive/2009/5/30/3662.html2009/5/30 12:46:00

led日光灯电源设计十大关键

目前,led日光灯照明市场比较活跃,led驱动电源厂家主要分成3大类型:第一类是开发做led芯片或led灯的工厂,顺势向下游渗透;第二类是原来做是做普通照明的工厂;第三类是完全新

  http://blog.alighting.cn/xyz8888888/archive/2014/5/15/351728.html2014/5/15 12:41:32

ups电源,不间断电源,后备电源,供电电源

asu系列(1-20kva)智能数字化在线式不间断电源 产品特色: ◇高品质 1. double conversion - 真正在线式不断电系统, 零转换时间 2

  http://blog.alighting.cn/apc020/archive/2009/7/20/4594.html2009/7/20 15:09:00

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