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leD寿命试验法

.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件: ●样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; ●工作电流为30ma; ●环境条件为室温(25℃±5℃); ●试验周期为96小时

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

智能照明平台解决方案

统的照明方案往往是采用专用器件来实现的,难以满足快速发展的需求。  因此,一个优秀的照明平台解决方案无疑需要支持灵活的拓扑结构应用,并满足Dali、Dmx512、0-10v、无线

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261350.html2012/1/8 20:20:32

采用恒流电源给leD供电

会达到1.2v。这是相当可观的数字。反过来也可以利用leD的这种特性来测量其结温,leD射灯例如有一个10串3并的leD组合,在接上恒流电源以后,测得其正向压降从32.3v降低到3

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261348.html2012/1/8 20:20:28

太阳能才是好的能量

加1,600万千瓦,是2007年全年增量的5.8倍。中国国家发改委公布了可再生能源中长期发展规划,提出到2010年,光伏发电累计装机达到30万千瓦,只占前年火力发电的0.05

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261347.html2012/1/8 20:19:59

leD的蓝移

 例如-coor基團,能產生紫外-可見吸收的官能團,如一個或幾個不飽和基團,或不飽和雜原子基團,c=c, c=o, n=n, n=o等稱為生色團(chromophore);   助色

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261344.html2012/1/8 20:19:53

leD应急照明集成技术研究的创新性及成果

随着我国经济的持续高速增长,能源消耗不断增加,能源紧张的矛盾日益突出。“研究开发高效节能、长寿命的半导体照明产品”被列入国家中长期科学和技术发展规划(2006-2020)“能源

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261342.html2012/1/8 20:19:46

leD生产中的六种技术

除gaas衬底,代之于全透明的gap晶体。由于芯片内除去了衬底吸收区,使量子效率从4%提升到了25-30%。为进一步减小电极区的吸收,有人将这种透明衬底型的ingaalp器件制作

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261338.html2012/1/8 20:19:40

leD显示屏中的自动亮度控制

为相应于D的发光时间,则像素点亮/灭的占空比为:D=ton/ts=D= bi2i。该表达式可用可预置减法计数器实现,但每一像素点配一计数器将使得显示电路异常复杂。上式改写

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261339.html2012/1/8 20:19:40

leD的寿命要如何预测

灭了。 那么到底问题出在哪里呢?假如不考虑电源和驱动的故障,leD的寿命表现为它的光衰,也就是时间长了,亮度就越来越暗,直到最后熄灭。通常定义衰减30%的时间作为其寿命。 那么le

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261337.html2012/1/8 20:19:24

leD照明与功率因数关系解析

偿措施,可能是受到成本因素的影响,抑或人们对功率因数补偿不甚了解,节能意识不强。也有加接适当容量的电容器作功率因数补偿的,多用在30w、40w大瓦数日光灯上,20w以下很少用。上世

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261336.html2012/1/8 20:19:23

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