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led寿命试验法

.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件: ●样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; ●工作电流为30ma; ●环境条件为室温(25℃±5℃); ●试验周期为96小时

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

led寿命试验法

.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件: ●样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯; ●工作电流为30ma; ●环境条件为室温(25℃±5℃); ●试验周期为96小时

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

led节能灯光源频闪效应危害分析及解决方案

度越大,频闪越严重。电光源光通量波动深度大小,与电光源的技术品质有直接关系。  电光源光通量波动深度大小,通常用百分数来描述。现阶段,己广泛应用的电光源中,如电感镇流器驱动的t8(2

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261362.html2012/1/8 20:21:45

简介:必须了解的八个色彩知识

境(munselln8)。 在观察池上检查颜色是非常重要的,因为我们检查颜色时的照明条件和周围环境会影响我们对颜色的感知。如果没有标准的观察池,那我们也可以在非直接照射的日光下观看样张。 2

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261369.html2012/1/8 20:22:16

led工艺技术介绍-led显示屏驱动芯片的应用

用。 led驱动芯片可分为通用芯片和专用芯片。通用芯片一般用于led显示屏的低端产品,如户内的单、双色屏等。最常用的通用芯片是74hc595,具有8位锁存、串一并移位寄存器和三态输出功

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261428.html2012/1/8 21:28:19

led芯片寿命试验

件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件:● 样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯;● 工作电流为30ma;● 环境条件

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led工艺技术介绍-led显示屏驱动芯片的应用

用。 led驱动芯片可分为通用芯片和专用芯片。通用芯片一般用于led显示屏的低端产品,如户内的单、双色屏等。最常用的通用芯片是74hc595,具有8位锁存、串一并移位寄存器和三态输出功

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262599.html2012/1/29 0:32:48

led芯片寿命试验

件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件:● 样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯;● 工作电流为30ma;● 环境条件

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

新春感谢信

t5高效荧光灯国家标准的第一起草单位;  6月,大明灯业成功入围2011年“高效照明产品推广项目”并再次成为高效照明产品中标企业;  8月,大明灯业获第十七批湖北省认定企业技术中

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常用灯具光学配件介绍

罩(遮光罩)防眩光罩(遮光罩)有多种形状。图5-8所示为防眩光挡板。如图5的挡板,一般称之为visor,iguzzini 称之为wall-washer screen。图5 viso

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