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led质保的八大技术

求,并且要用静电定期检测。2驱动电路设计led显示屏模块上的驱动电路板驱动ic排布亦会影响到led亮度。由于驱动ic输出电流在pcb板上传输距离过远,会使得传输路径压降过大,影响le

  http://blog.alighting.cn/gzled2011/archive/2012/3/23/269227.html2012/3/23 10:32:36

通用市场中的高亮度led驱动应用技术

、内部低压轨道照明、太阳能照明、交通、应急车辆、显示器/屏背光、船舶应用、便携投影、替换低压卤素灯、汽车应用等。安森美ncp3065/6多模led驱动器(图6)是一种低成本应用,具

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271157.html2012/4/10 20:58:09

led显示屏最主要的四大性能指标

测频率高达十几k hz,而用pr-650光谱测量;无论在白场,还是在200、100、50级等灰度等级下,所测光源闪烁频率均为200 hz。以上几点只是针对几个led显示屏的特

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271418.html2012/4/10 21:42:55

正确理解led显示屏的主要性能指标

级灰度等低灰度级下,所测频率高达十几khz,而用pr-650光谱测量;无论在白场,还是在200、100、50级等灰度等级下,所测光源闪烁频率均为200hz。 以上几点只是针对几

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271749.html2012/4/10 23:30:55

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

μm×350μm对角版图。芯片特性测试样品取圆片中心、划开后四分之一片位于直角顶点处的芯片,测试器是台湾长裕公司生产的t620型测试。     2 结果与讨论  我们对四种版

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271756.html2012/4/10 23:31:25

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

对近期有关“节能灯辐射大”议题的澄清【转】

道的错误分析  前一时期有媒体报道,有人依据gb8702-88《电磁辐射防护规定》用场强在距节能灯0~10cm的地方测量,辐射电场高达200伏/米,有的高达1600伏/米(见新

  http://blog.alighting.cn/zgf/archive/2012/4/26/273038.html2012/4/26 10:39:32

led芯片寿命试验

并投入寿命试验,完成连续试验后进行复测,以获得寿命试验结果。为了使寿命试验结果客观、准确,除做好测试器的计量外,还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试测试,以减少不必要的误差因

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

μm×350μm对角版图。芯片特性测试样品取圆片中心、划开后四分之一片位于直角顶点处的芯片,测试器是台湾长裕公司生产的t620型测试。     2 结果与讨论  我们对四种版

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274765.html2012/5/16 21:30:35

正确理解led显示屏的主要性能指标

级灰度等低灰度级下,所测频率高达十几khz,而用pr-650光谱测量;无论在白场,还是在200、100、50级等灰度等级下,所测光源闪烁频率均为200hz。 以上几点只是针对几

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274772.html2012/5/16 21:30:56

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