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LED寿命试验法

成器件的光衰老化的因素复杂,LED灯控制器可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143403.html2011/3/17 21:38:00

LED寿命试验法

成器件的光衰老化的因素复杂,LED灯控制器可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00

LED寿命试验法

成器件的光衰老化的因素复杂,LED灯控制器可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

LED寿命试验法

成器件的光衰老化的因素复杂,LED灯控制器可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

LED 外延芯片和外延工艺

LED 工作原理可知,外延材料是LED 的核心部分,事实上,LED 的波长、亮度、正向电压等主要光电参数基本上取决于外延材料。

  https://www.alighting.cn/2013/3/22 13:51:32

gbt 29293-2012 LED筒灯测量方法

本标准规定了以LED为光源、电源电压不超过250v的一般照明用LED筒灯性能的测量方法。本标准适用于使用一体化LED模块、半一体化LED模块、非一体化LED模块、半一体化LED

  https://www.alighting.cn/resource/20141231/81428.htm2014/12/31 16:05:14

中大尺寸lcd背光应用的LED驱动方案

小尺寸液晶屏的LED背光驱动方案不同,当液晶屏的尺寸逐渐增大时,需要几十甚至几百个高亮度LED同时点亮以提供足够的光源。 这往往意味着更高的驱动电压,更大的驱动电流,更严格的散热要

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/2/20/134151.html2011/2/20 23:07:00

LED参考设计指南

LED参考设计指南帮助您从容应对各种照明设计挑战。LED参考设计指南是您重要的参考工具书,能够充分满足您的各种照明设计需求。LED照明设计人员面临着严峻的挑战,他们需要通过先

  https://www.alighting.cn/resource/2011/5/17/135821_36.htm2011/5/17 13:58:21

LED产业繁华大梦

LED在近几年突然像从海底喷发的火山一样,竟然引起欣然大浪,振撼全世界;现在凡是地方政府官员组织招商引资,言必称“打造全世界规模最大的LED光电产业园”,风险投资无不关注LED光

  https://www.alighting.cn/news/20101026/n597228784.htm2010/10/26 9:55:16

华硕专业LED+ips液晶将3月问世

据悉,此前非常受消费者青睐的华硕pa246q-a显示器的“LED版”——pa248q液晶将有机会于3月份全面上市。pa248q显示器是在ips广视角的液晶基础上采用了LED背

  https://www.alighting.cn/pingce/20120217/122653.htm2012/2/17 10:09:42

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