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lED芯片及封装设计生产最新研究动态(2010.11)

总结了lED芯片及封装设计生产最新研究动态,分享给大家;

  https://www.alighting.cn/resource/20101130/128175.htm2010/11/30 11:02:36

lED芯片封装缺陷检测方法研究

引脚式lED芯片封装工艺中封装缺陷不可避免。基于p-n结的光生伏特效应和电子隧穿效应,分析了一种封装缺陷对lED支架回路光电流的影响。利用电磁感应定律对lED支架回路光电流进

  https://www.alighting.cn/resource/20120310/126683.htm2012/3/10 19:11:29

常用大功率lED芯片制作工序

为了获得大功率lED器件,有必要准备一个合适的大功率lED面板灯芯片。国际社会通常是大功率lED芯片的制造方法归纳如下。

  https://www.alighting.cn/resource/20131025/125196.htm2013/10/25 10:31:08

cree单芯片lED达1000lm

2007年9月7日,cree当日宣布已证明一单芯片lED的光输出超过1000lm,数字上与标准家用灯泡的光输出水平相当。cree的成果证实了其在lED开发领域继续领先的地位。

  https://www.alighting.cn/resource/20070910/128525.htm2007/9/10 0:00:00

大功率lED芯片抗过电应力能力研究

对不同大功率lED芯片进行单次脉冲浪涌冲击,对比不同大功率lED芯片在相同浪涌波形下的抗过电应力能力。实验共测试5款lED产品,发现不同大功率lED芯片的抗过电应力能力相差很

  https://www.alighting.cn/resource/2013/11/15/153954_33.htm2013/11/15 15:39:54

用ch451芯片驱动lED点阵屏的电路设计

文章介绍了这种芯片的特点和使用方法,并给出软硬件的设计实例。

  https://www.alighting.cn/2014/12/31 10:26:20

大功率lED芯片抗过电应力能力研究

对不同大功率lED芯片进行单次脉冲浪涌冲击,对比不同大功率lED芯片在相同浪涌波形下的抗过电应力能力。实验共测试5款lED产品,发现不同大功率lED芯片的抗过电应力能力相差很

  https://www.alighting.cn/resource/20131114/125121.htm2013/11/14 16:33:06

lED芯片在线检测方法研究

对于封装过程中的lED芯片的检测目前还没有行之有效的方法,基于p-n结的光生伏特效应和法拉第定律,提出一种非接触式的针对lED封装过程中芯片质量及芯片与支架之间连接状态的检测方

  https://www.alighting.cn/resource/20110727/127386.htm2011/7/27 16:51:03

lED外延片及芯片产品的质量控制

半导体照明产业是一个新兴产业,尤其是其上游lED外延及芯片制造产业在中国更是近几年才迅猛发展起来,各lED外延及芯片制造企业都是在企业发展的过程中,逐步探索质量控制的途径和方法。

  https://www.alighting.cn/2013/3/4 11:41:44

lED芯片倒装工艺原理以及发展趋势(下)

正装结构和垂直结构的芯片是gan与荧光粉和硅胶接触,而倒装结构中是蓝宝石(sapphire)与荧光粉和硅胶接触。gan的折射率约为2.4,蓝宝石折射率为1.8,荧光粉折射率为1.

  https://www.alighting.cn/resource/20140804/124386.htm2014/8/4 10:12:48

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