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中国科学院在中国率先突破以氮化物为主的半导体外延材料生长及掺杂、芯片结构设计及机理验证、测试及封装等关键技术，实现了150lm/w以上的led高效发光;成功制备了中国首个300n
https://www.alighting.cn/pingce/20120917/123060.htm2012/9/17 10:00:36
定，徒手不能够拆开，必须使用专用的工具才能接触到内置电源部分。8、耐压测试需满足：2u+1000v耐压1分钟不发生电络或击穿。9、防火等级要求：塑料外壳最少要有v-0等级的。10、灯
http://blog.alighting.cn/122599/archive/2012/9/16/290087.html2012/9/16 9:34:15
本($/klm)减少50%。 在测试和检验的讨论中呼吁支持发展高速、高分辨率的、非破坏性的测试设备，标准化的测试程序和相应的度量应在价值链的每个阶段内：半导体晶片、外延层、 le
http://blog.alighting.cn/oumanlight/archive/2012/9/15/290030.html2012/9/15 15:13:11
白光高亮度输出led。 lm-80led寿命测试建议标准要求led光源必须要有最少35,000小时的寿命，较新的大功率led在高结温下最少可以达到60,000小时(l70,b1
http://blog.alighting.cn/cszyled/archive/2012/9/14/289948.html2012/9/14 15:50:27
一。 在led检测技术方面，由于led产品的特性与传统光源有较大差别，led的发光与结温度有密切的关系，在led产品的光学和光电参数测试中，环境温度、散热器或壳件温度的变化都会改
http://blog.alighting.cn/cszyled/archive/2012/9/13/289853.html2012/9/13 14:52:06
otaltemp科技公司的新一代热管理平台具有优异的测试速度、效率，并能够精确控制测试产品的温度条件。cots技术的采用，使其能够成功集成带有高密度分部的长寿命ac卷带热沉的内嵌
https://www.alighting.cn/pingce/20120912/123067.htm2012/9/12 11:03:33
解，目前纳米涂层-普通灯具反光材料都为铝制，通过日本柯尼卡美能达对外完发布的测试报告显示，其铝板全反射率可以做到80%-85%，由此支撑的发射器损失可以降低至15%-20%，但只能窄
http://blog.alighting.cn/xyz8888888/archive/2012/9/10/289503.html2012/9/10 12:13:37
准要建立在相对成熟的产品或技术之上。一些技术和产品尚未完全定型，如果急于制定标准就限制了以后的产品开发和技术发展。因此，可以考虑出台一些术语、测试方法之类的基础性规范和标准，以便规范市
http://blog.alighting.cn/jadsion/archive/2012/9/10/289496.html2012/9/10 10:35:23
％测试两次，以确保最好的质量和零缺陷 www.cnhdzm.co
http://blog.alighting.cn/yinjideng/archive/2012/9/9/289461.html2012/9/9 13:39:31
原来使用的照度计是为推广钠灯等用的.中间视觉和暗视觉部分的白光被过滤掉的,以接受明视觉光谱为准的.这样对测试数据和人眼看到不一致.目前已经开始逐渐使用新照度计.测试结果更为科学
http://blog.alighting.cn/77508/archive/2012/9/8/289440.html2012/9/8 16:43:55
