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次,每次间隔8秒以上,然后断电,再把电压调至170v,通电观察,最后把电压调至250v,老化2小时后,开关3次每次间隔8秒,老化结束。在以上的试验过程中如发现问题的均为不合格产品,需
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准的内容仍有扩充空间,四团体于2006年3月公布此标准的修订版,增加且修订原先的标准内容,在色度学的量测以及光通量的量测方式等作出更详细的规范。然基于谨慎的心态,有许多部分仍然是被放
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与街路照明灯具 的安全要求cjj45-2006城市道路照明设计标准en13201-2：2003路灯-第2部分：性能要求en13021-3：2003路灯-第3部分：性能的计算e
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试结构,一种是将被测leD放置在球心,另外一种是放在球壁。 h:^e8( D 图2 积分球法测leD光通量 此外,由于积分球法测试光通量时光源对光的自吸收会对测试结果造成影
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规的接触式测量几乎难以实现封装中的质量检测,非接触测量是最有希望的手段。3、非接触检测的基本原理 3.1 leD芯片的光伏特性 发光二极管leD芯片的核心是掺杂的pn结,当给它施
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流或交流电子控制装置 性能要求》标准中的光效、颜色特征、光衰、寿命和能效等指标以及灯具的分布光度和效率指标,就是体现了这方面的要求。 3、leD、控制装置和灯具相互配合的要求 这
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v(有效值)并且峰值≤33 2 v 时,输出端子可外露。(3)输出端子和电源电路之间。为了emc 防护或控制要求所跨接的电容器应是y1 电容或两个串联的且参数相同的y2 电容。 适
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为总电阻 r0 ′ =2 × 250=500 欧姆,提供的正向电流较小所致。此时 if ≈ 3 － 1.7/500=2.6 ma四、注意事项：1.?裼盟?表法必须先调整好两块万用
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态,可以帮助人们寻找克服它的办法,这也是制订标准的意义所在。新版gb19510.4《荧光灯用交流电子镇流器的特殊要求》即将发布。等同iec61347-2-3:2000-a1：2004-
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及欧洲等发达国家及政府组织在leD发光方面投入大量的人力、物力组织开发和研究,使leD光源的技术水平有了大幅度的提高,功率已经达到了3～3w,发光效率达到301m/w,使leD光源用
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