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LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

LED高峰论坛】LED照明解决方案芯片模组

本文为2012亚洲LED高峰论坛上,晶元光电股份有限公司谢明勋先生所做《LED照明解决方案-芯片模组》的主题演讲文案,再此经谢明勋先生同意特发布在新世纪LED网平台,分享给大家。

  https://www.alighting.cn/resource/2012/6/25/93644_23.htm2012/6/25 9:36:44

bcd semiconductor推线性恒流型LED驱动芯片ap2502

bcd semiconductor推出一款超高电流匹配度的线性恒流型LED驱动芯片ap2502,其内部集成4路独立的恒流源,通过共阳方式驱动4颗并联的LED,可广泛应用于手机

  https://www.alighting.cn/pingce/20101209/123142.htm2010/12/9 9:21:47

安华高科上市用于车载的0.45mm厚芯片LED

美国安华高科技(avagotechnologies)日前发布外观尺寸为1.65mm×0.8mm×0.45mm的芯片LED“asmt-rx45”系列和输入功率为0.5w的功率LED

  https://www.alighting.cn/news/2007521/V2446.htm2007/5/21 16:40:19

LED相关技术专利情况

LED行业是一个高进入壁垒的行业,这里指的是上游芯片外延片,该环节目前占到了整个产业链产值的70% 。也正是因为如此,才有了LED专利壁垒的形成。

  https://www.alighting.cn/resource/20101207/128148.htm2010/12/7 13:25:40

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