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详解:改善led散性能的几个途径

d 芯片的温度,换言之,减低 led 芯片到烧焊点的抗,可以管用减缓led 芯片降低温度效用的负

  https://www.alighting.cn/resource/20110513/127619.htm2011/5/13 13:40:43

jedec发布五项国际led测试标准

jedec最近出版了第一个国际组件级的高亮度/功率led测试标准,它定义了led测试数据表上的数据、测试环境和程序标准。jedec jc-15委员会联合led产业领导者制定了

  https://www.alighting.cn/news/20120525/99747.htm2012/5/25 9:56:24

艾笛森edipower ii hm产品齐全 规格和效能再提升

艾笛森光电的edipower ii hm系列产品目前已推出5瓦至40瓦的机种,产品线齐全,可供不同应用使用,近期推出的大功率40瓦机种,采用专利的荧光粉,可提高稳定性,并减少光

  https://www.alighting.cn/pingce/20130911/121911.htm2013/9/11 10:43:55

改善led散性能的相关途径分析

速锐减。因为这个,不可少想办法减低led芯片的温度,换言之,减低led芯片到烧焊点的抗,可以管用减缓led芯片降低温度效用的负

  https://www.alighting.cn/resource/20110401/127797.htm2011/4/1 12:47:38

v5综合大楼建筑立面照明——阿拉丁神灯奖申报项目

本案例为2013阿拉丁神灯奖工程类参评项目——华v5综合大楼建筑立面照明。为台北内湖五期重划区内一厂办综合大楼,建筑立面以金属材质不同比例的方框,勾勒出整体立面的视觉效果。此

  https://www.alighting.cn/case/2013/4/11/111855_32.htm2013/4/11 11:18:55

科电子易系列产品发布会6日深圳举行

科电子(广州)有限公司将于9月6日下午在深圳举办“e时代 星精彩”易系列产品发布会,展示其最新研发出易系列陶瓷基无金线光源产品-易系列,针对传统led封装导致led产品出现

  https://www.alighting.cn/news/201191/n126634222.htm2011/9/1 9:56:16

led灯具的特性测试

摘要:本文介绍了测试led灯具内部芯片结温的方法及检测过程,并通过测试不同的led路灯工作时结温,说明了一般判定led灯具特性的测试方法。

  https://www.alighting.cn/resource/2012/6/20/163640_07.htm2012/6/20 16:36:40

led散需要系统设计和管理

如何降 低led内部和外部、改进光源紧结构压力、免用铝基 板等问题进行分析和实验,设计了“一种与散器直触式 led光源”,并推出了“一种复式散器及其模块式led灯具”

  https://www.alighting.cn/2012/2/24 17:47:28

led背光源设计研究

本文指出最根本解决led 设计的方案还需要从led本身的光效上来考虑,也就是说,如何提高led本身的发光效率依然是led 背光源设计的关键。

  https://www.alighting.cn/2015/1/20 11:20:04

“新苹果”炒蓝宝石 东电子实控人套现逾亿

被挖掘出来,东电子、天通股份、天龙光电等公司股价均出现了一波强力上

  https://www.alighting.cn/news/20131211/87671.htm2013/12/11 15:13:08

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