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介绍了新型环形hid灯电感镇流器的设计思想，计算公式和样品测试结果。
https://www.alighting.cn/resource/200728/V12383.htm2007/2/8 13:16:44
从事灯具安规测试多年，对于灯具产品的检测认证比较精通。
http://blog.alighting.cn/118226/2012/6/11 12:42:03
大纲：led照明的测量技术、tektronix的led照明测试方案及特点
https://www.alighting.cn/resource/2012/1/6/18333_23.htm2012/1/6 18:03:33
主要涉及的灯具设计指南以及常用测试标准，标准老了点，但是相对比较实用
http://blog.alighting.cn/shonyoung/archive/2010/5/25/46059.html2010/5/25 10:35:00
https://www.alighting.cn/news/200728/V12383.htm2007/2/8 13:16:44
世界发达国家为了抢占led研究的制高点，在led标准和测试方面都投入了大量的人力物力，例如日本成立了“白光led测试研究委员会”，美国国家标准检测研究所(nist)是一个世界著
https://www.alighting.cn/news/20100915/85753.htm2010/9/15 9:45:02
6月30日晚，大湾区科学论坛永久会址项目进行亮灯测试
https://www.alighting.cn/news/20250714/177512.htm2025/7/14 11:14:59
点的温度超过半导体硅的熔点(1415℃)时所引起的。静电的脉冲能量可以产生局部地方发热，因此出现直接击穿灯管和ic的故障。即使电压低于介质的击穿电压，也会发生这种故障。一个典型的例
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127080.html2011/1/12 17:19:00
也就越大，例如焊锡的不饱满，焊锡本身质量存在问题等等，都会产生严重的泄漏路径，从而造成毁灭性的破坏。另一种故障是由于节点的温度超过半导体硅的熔点（1415℃）时所引起的。静电的脉冲能
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/5/19/179631.html2011/5/19 0:20:00
大,例如焊锡的不饱满,焊锡本身质量存在问题等等,都会产生严重的泄漏路径,从而造成毁灭性的破坏。另一种故障是由于节点的温度超过半导体硅的熔点(1415℃)时所引起的。静电的脉冲能量可
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229941.html2011/7/17 23:26:00
