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本文将介绍欧联最新版本的低电压指令及说明如何满足新指令的要求，重点将放在包含测试报告的 ce 技术文件的要求，以协助厂商因应 lvd 指令。本文简要的陈述指令的一般要求，而后，
https://www.alighting.cn/news/2008626/V16283.htm2008/6/26 11:23:53
近日，美国能源部(doe)发布了关于整体式led灯(integrated led lamp)的测试程序的联邦公报。要求进入美国的整体式led灯必须按照这个测试程序的要求在有资
https://www.alighting.cn/news/20160823/143199.htm2016/8/23 10:15:37
桂林电子科技大学院长、教授杨道国在2012中国国际半导体照明论坛上做题为《led灯具寿命的快速检测：阶梯压力加速测试》的报告时提出，半导体行业通常有一个可靠性测试方法：持续加速测
https://www.alighting.cn/news/2012119/n765945624.htm2012/11/9 10:36:11
影响led寿命的一个重要参数就是led热阻。其数值越低，表示芯片中的热量传导到支架或铝基板上越快。这有利于降低芯片中pn结的温度，从而延长led的寿命。
https://www.alighting.cn/2013/7/17 11:44:35
作为户外照明产品的led路灯,其可靠性必须进行现场的长程测试,而长程测试过程和方法对测量可信度会带来很大影响.本文针对led的特性,讨论了led路灯长程测试方法和测试过程中可能引
https://www.alighting.cn/resource/20110429/127678.htm2011/4/29 18:25:50
ies lm-80-2008是关于led灯具、阵列和组件测试方法的行业标准。lm-80测试的目的是通过统一的测试方法，比较各实验室的测试结果。这个测试数据使led照明和灯具制造
https://www.alighting.cn/news/20110922/115463.htm2011/9/22 9:48:37
主要内容：阐述led测试过程中所遇到的几个问题，例如led测试随方向性变化的问题、led光学特性随温度变化的问题以及具体解决方法。
https://www.alighting.cn/resource/2011/12/6/173935_47.htm2011/12/6 17:39:35
本文主要介绍led芯片及器件的分选测试，led的分选有两种方法：一是以芯片为基础的测试分选，二是对封装好的led进行测试分选。
https://www.alighting.cn/2013/7/18 16:24:50
一些物体，如锗、硅、砷化稼及大多数的金属氧化物和金属硫化物，它们既不象导体那样容易导屯，也不象绝缘体那样不易导电，而是介于导体和绝缘体之间，我们把它们叫做半导体。绝大多数半导体都是
https://www.alighting.cn/resource/20100830/128297.htm2010/8/30 13:05:26
本文介绍了cie 及国家标准对路面亮度的测试要求，随着测试技术的进步，成像亮度计的测试精度逐渐提高，使用成像亮度计进行亮度测试的新方法成为可能，本文通过试验给出了成像亮度计和点
https://www.alighting.cn/2011/9/23 16:43:47
