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向分布。探讨了该分布与晶体生长过程及晶体质量的关系,测量分析结果可为生长工艺参数的优化提供参考。还采用主扩散模型对测量结果进行高斯拟合,得出了高温时(1030℃)硅在gan中的扩散系
https://www.alighting.cn/resource/20131029/125182.htm2013/10/29 10:01:55
led的驱动电源可谓是led的核心部件，其性能质量对led的能效、可靠性、照明品质有着极大影响。且随着led驱动技术发展，一些新的性能参数，如频闪指标也吸引了诸多关注，相关的标
https://www.alighting.cn/2013/10/14 15:18:26
散射系数是气溶胶光学性质的重要参数之一。为了研究气溶胶光学性质,研制了一种用于测量散射系数的积分浊度仪。介绍了该仪器的工作原理、系统结构设计,对该仪器中最为重要的光学测量腔室和光
https://www.alighting.cn/2013/5/20 12:01:35
制备了人工opal晶体模板,运用mocvd方法在sio2人工opal球体间填充了高折射率的inp晶体,选择了mocvd生长inp的有关参数.样品扫描电子显微镜及反射谱结果检测显
https://www.alighting.cn/resource/20130509/125625.htm2013/5/9 10:41:41
本文研究了icp刻蚀蓝宝石中工艺参数对蓝宝石刻蚀速率的影响规律,所用气体为cl2/bcl3,研究结果表明,蓝宝石的刻蚀速率随着icp功率、rf功率和气体总流量的增大单调增大;随
https://www.alighting.cn/resource/20130416/125723.htm2013/4/16 10:49:04
光转换成白光。分别就这两种管芯报道了我们研制的发射蓝、绿、黄、红等不同颜色的稀土发光材料，并报道了由它们制成的白光发光二极管的色坐标、相关色温和显色指数等参
https://www.alighting.cn/resource/20130327/125807.htm2013/3/27 14:05:59
腔可以提高芯片的发光效率和光束性能;讨论了反射腔的结构参数与芯片发光效率之间的关系。最后设计r封装的工艺流程。利用陵封装结构可以降低芯片的封装尺、j.提高器件的发光效率和散热特
https://www.alighting.cn/resource/20130325/125825.htm2013/3/25 11:15:34
微缺陷与器件可靠性的关系密切;减少外延晶片中的微缺陷密度有利于提高led器件的可靠性。通过建立从外延片晶体结构质量、芯片光电参数分布到器件可靠性的分析实验方法,为gan-led外
https://www.alighting.cn/resource/20130325/125827.htm2013/3/25 10:51:55
本书是作者(国家半导体公司总工程师)凭多年工作经验和学术造诣全面概括开关电源设计与优化技术的结晶。书中系统论述了开关电源电路(设计)的功率变换、emi滤波器、各功率变换器器件的参
https://www.alighting.cn/2013/3/25 10:40:22
基于带有寄生参数的发光二极管(led)shockley方程,结合具有饱和特性的固态功率放大器的幅度传输模型,构建了可见光通信系统中led的双向饱和非线性模型。基于该模型,通过蒙特
https://www.alighting.cn/resource/20130319/125862.htm2013/3/19 10:15:00
