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光，有一部分与结区的杂质或缺陷相结合，最终也会变成热。 c、实践证明，出光效率的限制是导致led结温升高的主要原因。目前，先进的材料生长与元件制造工艺已能使led极大多数输入电
http://blog.alighting.cn/leddlm/archive/2011/7/24/230666.html2011/7/24 17:25:00
n材料的外延生长。通过x射线衍射结果比较了两组衬底上外延材料的质量,利用原子力显微镜结果对外延层表面形貌进行了分析,最后论述了腐蚀时间的调整对蓝宝石衬底上外延生长氮化镓质量的影响机
https://www.alighting.cn/resource/20110722/127401.htm2011/7/22 15:10:39
采用化学方法腐蚀部分c面蓝宝石衬底,在腐蚀区域形成一定的图案,利用lp-mocvd在经过表面处理的蓝宝石衬底上外延生长gan薄膜.利用gan薄膜光学透射谱,结合椭偏测量得到的折射
https://www.alighting.cn/resource/20110722/127402.htm2011/7/22 14:38:53
通过研究蓝宝石衬底分子束外延(mbe)生长gan薄膜过程中原位椭偏光谱,发现常规蓝宝石衬底mbe生长gan薄膜的位错缺陷主要起源于缓冲层升温过程中应变能的释放程度。采用蓝宝石邻晶
https://www.alighting.cn/resource/20110722/127403.htm2011/7/22 14:04:45
采用微区拉曼光谱对生长在湿法腐蚀获得的无掩膜周期性图形蓝宝石衬底上gan材料做了研究,结果显示,侧向外延生长区域具有较低的压应力。采用湿法腐蚀结合原子力显微镜对材料的位错进行了表
https://www.alighting.cn/resource/20110721/127408.htm2011/7/21 17:03:55
等)。 5. 叙述制作时之生产检查程序，以确保 emi 特性之维持。 6. 任何会影响到 emi 的变更叙述和必要之测试记录。 c-tick认证周期 c-tick认证周
http://blog.alighting.cn/lca_cjh/archive/2011/7/21/230539.html2011/7/21 11:58:00
关在每一时钟周期的确定百分比的时间内闭合。在开关闭合期间，有足够的能量被转换至输出，以产生所需的电流，该电流流经r1。如果过多或过少的能量被转换，r1两端的电压将增加或减少，从而改
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230510.html2011/7/20 23:25:00
值必须大于整屏显示周期。由于显示屏每行显示1．25ms，整屏显示周期为20ms，考虑到余量的情况，可将软定时器的设定值定在大于30ms。如此循环计数，即可实现动态显示。“软定时器
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230507.html2011/7/20 23:24:00
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230506.html2011/7/20 23:23:00
与fet电流成比例)。在每一个周期开始，s-r触发器使fet导通，随着通过fet电流的增加，与电流成比例的电压将与来自线性斜坡发生器的斜坡信号相加，然后送入pwm比较器的输入端。当
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230500.html2011/7/20 23:21:00
