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多芯片集成大功率白光led照明光源

通过对自行设计的集成功率型1w白光led进行测试,发现当持续点亮900h时,其光通量衰减只有12%,比传统支架型封装的白光led明显慢,而色温飘移也不明显。1w白光led的色温可

  https://www.alighting.cn/resource/20130603/125541.htm2013/6/3 11:00:10

极性电气石衬底对zno纳米片生长的影响

采用极性电气石(0001)晶面作为生长衬底,通过超声雾化热解技术,制备出直立片状晶体交叉构成的纳米zno薄膜,xrd和raman测试显示晶体为六方纤锌矿结构.利用电子探针和穆斯堡

  https://www.alighting.cn/resource/20130603/125542.htm2013/6/3 10:41:19

大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法

介绍了发光二极管(led)的发展简史。提出可能影响led可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和led本身材料缺陷。对于led可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一

  https://www.alighting.cn/2013/5/29 10:20:47

led在城市道路照明中的应用

市道路照明。文章主要阐述针对不同的道路照明设计要求,如何选用适合标准要求的灯具,对照明效果进行模拟,对实际照明结果进行测

  https://www.alighting.cn/2013/5/28 15:01:00

氮化镓低维纳米结构的制备与表征

主要是以氧化镓为原料,通过气相沉积法,制备出gan纳米线和纳米带.通过x-射线衍射(xrd),扫面电镜(sem)和高分辨透射电镜(hrtem)等测试手段对其形貌进行了表征和分析

  https://www.alighting.cn/resource/20130521/125588.htm2013/5/21 10:42:04

led封装生产中自动测试与分拣设备的研制

本文介绍了国内led封装生产企业对自动测试与分拣设备的需求情况,分析了led自动测试与分拣设备的光机电一体化系统构架设计,光色电参数的高速高精度检测技术,设备可靠性研究与设备成

  https://www.alighting.cn/2013/5/17 10:27:28

生长温度对si衬底zno薄膜结构的影响

m)对其表面形貌和结构进行了测试和分析。通过测试分析得知,这些zno薄膜在生长温度400℃时能够获得较好的晶体结构,薄膜表面平整,晶粒均

  https://www.alighting.cn/resource/20130515/125605.htm2013/5/15 11:28:09

生长温度对6h-sic上sicge薄膜发光特性的影响

节作用。同时,对sicge薄膜进行了变温pl测试,发现当测试温度高于200k时,发光峰呈现出蓝移现象。认为这是不同机制参与发光所造

  https://www.alighting.cn/2013/5/10 11:36:06

条形叉指n阱和p衬底结的硅led设计及分析

d发光显微图形及实际器件的版图,并在对器件进行了正、反向i-v特性测试、光功率及光谱特性的测量。siled的正向偏置时开启电压为0.9v,反向偏置时在15v左右可观察到发光。器件在室

  https://www.alighting.cn/2013/4/28 10:30:13

大功率led有源温控系统的开发

法,最后说明led 有源温控系统的具体配置方式并分析测试的数据结果,展示了有源温控系统准确性和可靠

  https://www.alighting.cn/resource/20130427/125662.htm2013/4/27 11:29:22

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