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超越前所未有!truec2技术的高性能LED射灯方案

本文将讨论这种控制策略实现恒流的原理,分析这种开环控制策略的优缺点,和应用这种控制策略需要做的外围补偿,同时基于占空比半导体公司新产品du2401芯片,介绍这种全新的闭环电流控

  https://www.alighting.cn/2014/2/13 12:09:43

封装领域的一大步:瑞丰新研发LED抗硫化技术

每年光亚展我们都期待各大厂商能带来独家的技术和产品,让LED产业不断延伸,在照明、显示甚至新领域都能发光。然而LED到如今开始凸显疲态,以至于我们在为数不多的亮点中发现一点涟漪

  https://www.alighting.cn/news/20170614/151135.htm2017/6/14 9:54:19

晶元光电:不可不知的LED专利地雷暨前沿技术发展论坛

助客户对专利的认知,举办不可不知的LED专利地雷暨前沿技术发展论

  https://www.alighting.cn/special/epistar/2011/9/27 17:37:05

中国与国外LED封装技术的差异

求,先进封装工艺生产出来的LED已接近国际同类产品水平。中国LED封装企业在积极迎头赶上,与国外技术的差距在缩

  https://www.alighting.cn/resource/2012/12/6/101441_90.htm2012/12/6 10:14:41

高光环艺:设计师要跟上LED技术发展速度

“比起突破技术藩篱,LED更应超越的是,——创新性设计!”当LED行业内大多数人只是关注LED光源如取代传统灯具时,显然另一批人更具有远见卓识,他们认为,LED就是LED,为

  https://www.alighting.cn/news/201171/n424432912.htm2011/7/1 18:26:49

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

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