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LED散热基板的设计及工艺分析

LED模组现今大量使用在电子相关产品上,随着应用范围扩大以及照明系统的不断提升,约从1990年开始高功率化的要求急速上升,尤其是以白光高功率型式的需求最大,现在的照明系统上所使用

  https://www.alighting.cn/resource/20131115/125117.htm2013/11/15 14:40:27

LED灯管认证(ul认证)常见问题分析与对策

d灯管的ul认证,也总结了一点经验,希望对您这边的ul认证申请会有所帮助。以下内容为LED灯管申请ul认证常见的问题:1、LED灯管的ul认证申请,首先会对结构进行检查。目前ul标

  http://blog.alighting.cn/122599/archive/2012/9/16/290087.html2012/9/16 9:34:15

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

德州仪器推出宽泛电压输入高功率LED驱动器

日前,德州仪器 (ti) 针对高功率应用推出一款具有动态余量控制的 6 通道 LED 驱动器,可准确高效地驱动6 个 LED 串。该 lm3463 是业界首款支持多种调光控制模

  https://www.alighting.cn/pingce/20120928/122096.htm2012/9/28 9:54:10

鸿利光电:本土白光LED封装领先企业-申银万国报告

本文全文为:申银万国“关于鸿利光电:本土白光LED封装领先企业”报告,推荐下载;

  https://www.alighting.cn/resource/20110506/127646.htm2011/5/6 19:06:14

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