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变,以反映新的工作电流。在大的正向电流下,led中的功率耗散会使设备发热,此举将改变正向压降和动态阻抗。在确定led阻抗时充分考虑散热环境是非常重要的。 当通过降压稳压器驱动led
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229885.html2011/7/17 22:55:00
式,得到以下结果： 该模拟可以深入进行,以描述器件的另一个热属性,称之为热容。正如将热阻模拟为电阻,可以将热容(ct,单位为j/℃)模拟为电容。将热容与热阻并联获得热阻抗(zt)。
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229866.html2011/7/17 22:47:00
度会影响其阻抗和感抗，从而影响频率响应。即使是通过直流信号的印制线也会从邻近的印制线耦合到射频信号并造成电路问题（甚至再次辐射出干扰信号）。五、检查布线设计完成后，需认真检查布线设
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是led点亮与熄灭所延迟的时间，即图3中tr 、tf 。图中t0 值很小，可忽略。图3 ② 响应时间主要取决于载流子寿命、器件的结电容及电路阻抗。led 的点亮时间——上升时间t
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率的改善、散热热阻抗的调整，或是制成易于产线生产组装的smt形式。单颗芯片 的封装形式，于led发光二极管最为常见，其技术瓶颈在于必须针对每个芯片进行良率控管，因为采单芯片封装，若封
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229835.html2011/7/17 22:28:00
器的发展趋势是高速、高密度、低串扰、低阻抗、零延迟等。目前市场上主流的连接器支持6.25gbps的传输速率，但在两年以内，市场领导通信设备厂商会研发超过10gbps的产品，这对连接器提
http://blog.alighting.cn/longdiloveh/archive/2011/7/8/229352.html2011/7/8 16:38:00
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态阻抗测试，恒定拉压力测试（可以设定保持比率，就是说当产品没达到要求时自动完成测试），破断裂测试，去程单向回程单向测试，电阻归零（就是测试动态阻抗时引出线阻抗自动电脑不计）等等 以
http://blog.alighting.cn/longdiloveh/archive/2011/6/28/227929.html2011/6/28 11:15:00
效工作寿命在很大程度上受环境温度及由作用在内部阻抗上的纹波电流导致的内部温升影响。电解电容制造商提供的电解电容额定寿命是根据暴露在最高额定温度环境及施加最大额定纹波电流条件下得
http://blog.alighting.cn/zaqizaba/archive/2011/6/20/222228.html2011/6/20 22:11:00
流。在大的正向电流下，led中的功率耗散会使设备发热，此举将改变正向压降和动态阻抗。在确定led阻抗时充分考虑散热环境是非常重要的。 当通过降压稳压器驱动led时，led常常会根
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