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led芯片寿命试验

验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。1、引言作为电子元器件,发光二极管(light emitting diode-led)已出现40多年,但长久以来,受到发光效率和亮度的限

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

用于lcd背光的led技术进步

着驱动电流和结温的升高,led的效率会迅速下降,从而降低亮度,缩短led的寿命。更高的电流将引起结温升高,如果不能限制电流,结点将最终因高温而发生故障,这种现象有时被称为热逸散。因

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262745.html2012/1/29 0:42:26

用于lcd背光的led技术进步

着驱动电流和结温的升高,led的效率会迅速下降,从而降低亮度,缩短led的寿命。更高的电流将引起结温升高,如果不能限制电流,结点将最终因高温而发生故障,这种现象有时被称为热逸散。因

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2012/3/15/268383.html2012/3/15 22:02:42

用于lcd背光的led技术进步

着驱动电流和结温的升高,led的效率会迅速下降,从而降低亮度,缩短led的寿命。更高的电流将引起结温升高,如果不能限制电流,结点将最终因高温而发生故障,这种现象有时被称为热逸散。因

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271130.html2012/4/10 20:55:38

大功率led封装以及散热技术

一、 散热:由于目前半导体发光二极管晶片技术的限制,led的光电转换效率还有待提高,尤其是大功率led,因其功率较高,大 约有60%以上的电能将变成热能释放(随着半导体技术的发

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271718.html2012/4/10 23:24:08

led芯片寿命试验

验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。1、引言作为电子元器件,发光二极管(light emitting diode-led)已出现40多年,但长久以来,受到发光效率和亮度的限

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。1、引言作为电子元器件,发光二极管(light emitting diode-led)已出现40多年,但长久以来,受到发光效率和亮度的限

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

用于lcd背光的led技术进步

着驱动电流和结温的升高,led的效率会迅速下降,从而降低亮度,缩短led的寿命。更高的电流将引起结温升高,如果不能限制电流,结点将最终因高温而发生故障,这种现象有时被称为热逸散。因

  http://blog.alighting.cn/asdfeddc/archive/2012/6/20/279434.html2012/6/20 23:05:05

用于lcd背光的led技术进步

着驱动电流和结温的升高,led的效率会迅速下降,从而降低亮度,缩短led的寿命。更高的电流将引起结温升高,如果不能限制电流,结点将最终因高温而发生故障,这种现象有时被称为热逸散。因

  http://blog.alighting.cn/146439/archive/2012/7/19/282416.html2012/7/19 10:22:52

led路灯防浪涌干扰设计中的绝缘耐压问题解析

容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16a)》和 gb 17625.2-2007《电磁兼容限值 对每相额定电流≤16a 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化

  http://blog.alighting.cn/1077/archive/2012/10/15/293222.html2012/10/15 14:17:18

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