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深度分析t8 led管耐压测试珠原因

t8led管在制造完成准备老化前要不要加入耐压测试环节?有些厂家跳过这环节,直接老化出货了。为什么?答案就是耐压测试会珠。再把概念扩大,整个led行业有相当数量人员认为,耐

  https://www.alighting.cn/2013/9/13 11:49:13

原因分析

性,是封装、应用企业需要解决的关键问题。下面是对造成的一些原因作一些分析探讨,  1. 静电对led芯片造成损伤,使led芯片的pn结失效,漏电流增大,变成一个电阻  静电是一

  http://blog.alighting.cn/szknled/archive/2011/5/5/175375.html2011/5/5 19:51:00

t8 led管耐压测试珠机理分析和对策探讨

本文讨论了使用隔离电源组装的t8led管在耐压测试过程中珠损坏的主要原因:1.铝基板正负极压差大,超出led耐压值;2.铝基板负极出现薄弱环节击穿变成零电位,正极分到高压引

  https://www.alighting.cn/2013/10/10 10:26:47

led 原因分析探讨

品质量和可靠性,是封装、应用企业需要解决的关键问题。下面是对造成的一些原因作一些分析探讨,  1、静电对led芯片造成损伤,使led芯片的pn结失效,漏电流增大,变成一个电阻 

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/5/17/179123.html2011/5/17 16:54:00

[转载]led原因分析探讨

高产品质量和可靠性,是封装、应用企业需要解决的关键问题。下面是对造成的一些原因作一些分析探讨,  1、静电对led芯片造成损伤,使led芯片的pn结失效,漏电流增大,变成一个电

  http://blog.alighting.cn/kenvou/archive/2011/4/25/167160.html2011/4/25 16:48:00

昌辉照明全方位分析led的原因

量和可靠性,是封装、应用企业需要解决的关键问题。下面由北京昌辉照明对造成的一些原因作一些分析探讨:静电对led芯片造成损伤 静电对led芯片造成损伤,使led芯片的pn结失

  http://blog.alighting.cn/chlhzm/archive/2014/6/24/353344.html2014/6/24 16:49:18

[技术分析]led原因分析探讨

我们经常会碰到led不亮的情况,封装企业、应用企业以及使用的单位和个人,都有可能碰到,这就是行业内的人说的现象。

  https://www.alighting.cn/news/2010129/V22768.htm2010/1/29 9:31:40

led 平板现状分析

led 平板主要使用场合有办公照明、教室照明、医院照明、酒店照明,也可应用于展示厅、家庭客厅等,点缀环境,创造科技感和时尚感。本文介绍了led平板的分类,优缺点分析以及发展展

  https://www.alighting.cn/resource/2013/3/21/14316_86.htm2013/3/21 14:31:06

不良瓷嘴导致led“” 瓷嘴优化刻不容缓

大量失效分析案例证明,led封装器件的失效绝大多数来自于引线连接的电气回路断开所造成,这与不良的引线键合或由于引线键合引入的隐患有着莫大的关系。诚然,在焊线工艺里,质量上

  https://www.alighting.cn/news/20150724/131237.htm2015/7/24 10:07:10

led失效机理的探讨

由于工作原因笔者经常处理客户投诉,深有感触。针对和按亮等不良现象,客户通常会不加分析而又肯定地说是 led的问题。如果毫无根据地把责任全部归结于led封装,笔者认为对led封

  https://www.alighting.cn/resource/20110524/127561.htm2011/5/24 15:28:51

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