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浅谈结温与在led中的作用

led性能参数主要是指结温与,本文采用电参数法测量led的结温与,并以此作为芯片不同尺寸设计、器件封装、老化条件制定的主要依据。

  https://www.alighting.cn/resource/20130314/125882.htm2013/3/14 14:07:12

氧化铝和硅的led集成封装基板的比较分析

以氧化铝及硅作为led集成封装基板材料的比较分析,详细说明这些材料做的的导性和绝缘性,以及导致的问题对led光源性能的影响。

  https://www.alighting.cn/resource/2011/1/5/11218_46.htm2011/1/5 11:21:08

结温与制约大功率led发展

首先介绍pn结结温对led器件性能的影响,接着分析大功率led结温与器件的关系。基于对器件的分析,得出了结温与已经制约大功率led进一步向更大功率发展的结论,并提出

  https://www.alighting.cn/resource/20130318/125866.htm2013/3/18 11:53:54

韩冰:led模块的结温及测量

led模块的结温及测量:目前世界上生产和使用led呈现急速上升的趋势,但是led存在发现象,随着led的工作时间和工作电流的增加,其发光强度和光通量会下降,寿命降低,对白

  https://www.alighting.cn/resource/2011/4/14/17839_05.htm2011/4/14 17:08:39

大功率led的测量关键技术研究

一份出自2013国际ssl标准与检测峰会,由远方光电科学研究院的蔡春锋,陈聪,李晟,潘建根整理主讲的关于《大功率led的测量关键技术研究》 的讲义资料,现在分享给大家,欢迎下

  https://www.alighting.cn/2013/11/18 11:24:31

led结温、构成及其影响

ledpn结温上升会引起led光学、电学和学性能的变化,甚至过高的结温还会导致封装材料(例如环氧树脂)、荧光粉物理性能变坏,led发光衰变直至失效,因此分析led结温、

  https://www.alighting.cn/2013/6/5 9:56:39

明导与英飞凌提出的led封装检测方法成为“jesd51-14”标准

由美国明导科技与德国英飞凌科技2005年共同发表创意时所提出的半导体封检测方法,被管理半导体封装特性评测技术的jedec jc15委员会认定为“jesd51-14”标准,命

  https://www.alighting.cn/news/20110402/100611.htm2011/4/2 13:14:01

关于led、结温、冷光源的三个问题

分析解释关于led、结温、冷光源的三个问题,分享附件给大家,欢迎下载。

  https://www.alighting.cn/resource/20130326/125820.htm2013/3/26 10:50:10

梁新刚:大功率led器件的模拟与测试

清华大学航天航空学院常务院长梁新刚教授介绍了大功率led芯片、器件和测试方面的研究结果。

  https://www.alighting.cn/news/20080802/104433.htm2008/8/2 0:00:00

简析led照明在实际应用中的特性

每个设计师只有清楚地了解led内部从pn结到环境的特性,才能确保得到一个安全,可靠的设计和令人满意的性能。在流路径中可能有裸芯片或胶层等多个导界面,并且它们的厚度和

  https://www.alighting.cn/resource/20110803/127348.htm2011/8/3 10:16:00

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