站内搜索
年将是成熟的半导体照明领域激动人心的时
https://www.alighting.cn/resource/20141114/124090.htm2014/11/14 11:37:53
本文讲述了可控硅输出光耦测试的方法及步骤。
https://www.alighting.cn/2014/11/13 10:30:58
室?内?照?明?的?一?些?基?本?计?算?方?法。
https://www.alighting.cn/resource/2014/11/6/18447_68.htm2014/11/6 18:04:47
介绍了led芯片生产商、封装生产商和各类型led光源类型。附件为《led光源介绍课件》ppt，欢迎大家下载学习!
https://www.alighting.cn/resource/2014/11/6/175716_17.htm2014/11/6 17:57:16
将硅衬底上外延生长的氮化镓基led 薄膜，通过电镀的方法转移到铜支撑基板、铜铬支撑基板以及通过压焊的方法转移到新的硅支撑基板，获得了垂直结构蓝光led 器件，并对其老化特性进
https://www.alighting.cn/2014/11/6 10:24:34
提到移相控制的全桥pwm变换器，电源工程师绝不会陌生。它是最常用的中大功率dc/dc变换电路拓扑结构之一。
https://www.alighting.cn/2014/11/5 10:38:55
led球泡、射灯类产品散热需考虑光源、pcb、散热体和电源的合理搭配，针对不同灯具和散热标准进行散热结构的选择和设计，切忌盲目使用大型散热体或高导热材料而造成不必要的材料和成本浪
https://www.alighting.cn/resource/20141105/124128.htm2014/11/5 9:43:47
针对利用传统光谱法测试电光源参数严重失真这一情况，通过计算机及相关测试设备对电光源进行参数综合分析，简化测试方法、提高测试精度。采用对比分析测试方法，对白炽灯、紧凑型荧光灯、发
https://www.alighting.cn/resource/2014/11/4/18459_20.htm2014/11/4 18:04:59
在工艺上加速进步的步伐会引入新的影响良品率的缺陷种类，其中一些类型的缺陷并不能被光学检测手段所检测到。这些缺陷被称之为“非可见性缺陷(non visual defects，nvd)
https://www.alighting.cn/resource/20141104/124129.htm2014/11/4 12:37:24
在晶圆熔融键合技术上的最新进展已显示了它在提升键合对准精度上的能力过去的30年中，尺寸缩小和摩尔定律己成为硅平面工艺领域推动成本降低的主要动力。在这期间，主要的技术进步都
https://www.alighting.cn/resource/20141104/124133.htm2014/11/4 10:35:50
