站内搜索
引脚式led芯片封装工艺中封装缺陷不可避免。基于p-n结的光生伏特效应和电子隧穿效应,分析了一种封装缺陷对led支架回路光电流的影响。利用电磁感应定律对led支架回路光电流进
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230114.html2011/7/18 23:52:00
坏时,记下终止的时间,当所有的灯具损坏时,求出灯具的平均工作时间,这即为产品的寿命。测试方法2：根据实际灯具产品,采取的加速寿命老化的方法(例如加高温、高压和频繁开关等),根据实
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230112.html2011/7/18 23:51:00
d在注入电流时能发光的包含p-n结的固态器件3.2led模组由一个或多个包含诸如光学的、电气的、机械的和(或)电子的更多元器件的led组合起来的能提供光源的设备3.3led路灯使
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230110.html2011/7/18 23:50:00
7 led颜色特性测试方法5、热学特性 led的热学特性主要指热阻和结温。热阻是指沿热流通道上的温度差与通道上耗散的功率之比。结温是指led的pn结温度。led的热阻和结温是影响led光
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230107.html2011/7/18 23:49:00
规的接触式测量几乎难以实现封装中的质量检测,非接触测量是最有希望的手段。3、非接触检测的基本原理 3.1 led芯片的光伏特性 发光二极管led芯片的核心是掺杂的pn结,当给它施
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230108.html2011/7/18 23:49:00
如,使用led的道路灯具,既要求灯具有良好的密封,以保证防尘、防水功能,又要求具有良好的散热功能,以保证led 可以在诸多不利条件下,其结温仍然处于合理的水平。 4、电源对照明电
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230102.html2011/7/18 23:47:00
•温升测试电磁兼容测试•传导测试•谐波电流测试•电压波动测试•辐射电磁骚扰 (9khz-30mhz)光学性能测试•发光效率 •显色指数•光通量 •品色坐标•局部流明强度 •波长•流
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230103.html2011/7/18 23:47:00
称的ta 环境温度和1.06 倍的额定电源条件下正常工作,其变压器绕组温度应不超过表1。 (3)控制装置在短路或过载状态下最大温升值的限值 led 控制装置在额定电源电压的0
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230101.html2011/7/18 23:46:00
阻、壳体温度、结温等参数表示。辐射安全。目前,国际电工委员会iec将led产品等同于半导体激光器的要求进行辐射的安全测试和论证。因led是窄光束、高亮度的发光器件,考虑到其辐射可
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230097.html2011/7/18 23:44:00
剂,dez2n/tmga=0.15,生长
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230091.html2011/7/18 23:39:00
