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能以相对参数为依据,不同的厂家、用户、研究机构对此争议很大,导致国内led产业的发展受到严重影响。因此,半导体发光二极管测试方法国家标准应运而生。二、led测试方法 基于led各
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230087.html2011/7/18 23:26:00
载光源等场合,尤其是白光led技术的发展,led在照明领域的应用也越来越广泛。但是过去对于led的测试没有较全面的国家标准和行业标准,在生产实践中只能以相对参数为依据,不同的厂家
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230107.html2011/7/18 23:49:00
须进行整灯的老化测试 以取得符合系统实际性能的数据。 作为户外照明产品的led 路灯,其可靠性就必须进行现场的长程测试,时间跨度往往需要数千小时,而现场的长程测量的精度由于受到环境
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230135.html2011/7/19 0:03:00
键所在，也可以说是显示屏技术经验的体现。2 显示扫描原理 各个企业制造的ｌｅｄ显示屏的控制结构有所不同，但是，显示屏的显示扫描电路基本相同。双基色ｌｅｄ显示屏的显示扫描电路如图１所
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230142.html2011/7/19 0:07:00
虑，从中选择最佳设计；(6)完成最后步骤。虽然本文以一个室内照明设计为例，但所述的设计过程可以用于任何led照明设计中。现在的照明应用led，具有普通照明所需的亮度、效率、使用寿命
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230161.html2011/7/19 0:18:00
其频率可由外部电阻编程决定。外部高亮led串可采用恒流方式控制，以保持恒定亮度并增强led的可靠性，其恒流值可由外部取样电阻值决定，其变化范围从几毫安到1安培。xlt604驱动的le
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t，且其频率可由外部电阻编程决定。外部高亮led串可采用恒流方式控制，以保持恒定亮度并增强led的可靠性，其恒流值可由外部取样电阻值决定，其变化范围从几毫安到l安培。xlt604驱
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230290.html2011/7/19 23:43:00
及2个nmos管s4、s6组成，如图4所示。以p管s1和n管s4为例，计算开关管的宽长比。根据版图设计规则的要求，单个管子的宽长比w／l可以设定为2.8μm／0.6μm。假设s1的
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230304.html2011/7/19 23:55:00
中，绝大多数用来进行传输、处理、控制的信号都是数字信号，而目前大多数计算机与外部显示设备之间都是通过模拟vga接口连接，计算机内部以数字方式生成的显示图像信息，被显卡中的d／a(数
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光照明。随着 hbled 技术的不断发展，hbled发光效率可以达到 35 至 50 lm/w(流明/瓦)，已经超过了白炽灯和卤素灯，并可以与荧光灯相媲美。如果hbled技术进一
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