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led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

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  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

隔离led驱动电源系列方案

在全球能源短缺、环保要求不断提高的背景下,世界各国均大力发展绿色节能照明。led 照明作为一种革命性的节能照明技术,正在飞速发展。然而,led驱动电源的要求也在不断提高。高效率、高

  https://www.alighting.cn/2013/12/24 10:32:40

新型大功率led驱动芯片 xlt604及其应用

代其它光源的条件。然而,随着亮度持续提升,led将在不久的将来取代白热灯与日光灯.且价格也会因量产技术进步而下降,应用需求将大幅增加。 1 xlt604芯片的结构功能 xlt60

  http://blog.alighting.cn/wasabi1988/archive/2011/2/19/133838.html2011/2/19 23:22:00

led路灯驱动芯片!!!

sn3352 是dc-dc降压类型高效率的led驱动芯片,带温度补偿功能,输出电流高达700ma,芯片耐压40v,该封装尺寸小,发热少,是一款高端led路灯应用方案。与lm340

  http://blog.alighting.cn/xinmylily/archive/2009/6/30/4259.html2009/6/30 12:38:00

分体路灯

电极螺旋分体(路灯)与高压钠灯路灯 1、温度(路灯的灯罩均为密封设置,温度均偏高) 螺旋分体路灯,正好解决了这一难题,温度在80~85℃时为它的最佳工作状态,光效可达到最

  http://blog.alighting.cn/cindyxcw/archive/2009/5/18/3453.html2009/5/18 10:58:00

沙晓岚:表达世界上最美的灯光(组图)

北京奥运会开闭幕、残奥会开闭幕灯光总设计师沙晓岚老师以及他的团队带给了世人这一无与伦比的视觉盛宴!

  https://www.alighting.cn/news/2008919/V17359.htm2008/9/19 11:00:26

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