站内搜索
现全色系led产业化的同时，开发了led芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。 2、寿命试验条件的确定 电子产品在规定的工作及环境条件下，进
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43
穿防静电服、鞋、腕等 (1m) 。 5. 接地 a 、防静电工作区必须有安全可靠的防静电接地装置，地电阻小于4 。防静电地线不得与电源零线相接，不得与 防雷地线共用，使用三相五
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261432.html2012/1/8 21:28:50
热；甚至设计二次散热装置，来降低器件的热阻。在器件的内部，填充透明度高的柔性硅橡胶，在硅橡胶承受的温度范围内（一般为-40℃~200℃），胶体不会因温度骤然变化而导致器件开路，也
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261455.html2012/1/8 21:36:18
用电网电压,它必须配置一个电压转换装置,提供满足其额定的电压、电流,才能正常使用,即led专用电源.但是各种不同的led电源其性能和转换效率各不相同,所以选择合适、高效的led专
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261459.html2012/1/8 21:36:25
计和应用中没有充分地利用led的特点，进行扬长避短的使用，所以造成了在照明led应用到照明装置中时，产生很多不合理的错误设计。本文就目前照明用led应用于道路灯具中的一些主要问题，提
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261497.html2012/1/8 21:46:08
片的可靠性水平，以保证led芯片质量，为此我司在实现全色系led产业化的同时，开发了led芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。2、寿命试
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08
究计划涉及半导体材料和发光机理、半导体衬底材料、器件结晶生长工艺、荧光材料和照明装置以及led照明的国家标准，项目承担单位包括大学、科研机构和大公司。 除上述国家外，韩国和我国台
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261576.html2012/1/8 21:51:22
次散热装置，来降低器件的热阻。在器件的内部，填充透明度高的柔性硅橡胶，在硅橡胶承受的温度范围内(一般为-40℃～200℃)，胶体不会因温度骤然变化而导致器件开路，也不会出现变黄现
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261593.html2012/1/8 21:54:51
d照明散热技术大功率led照明光源需要解决的散热问题涉及以下几个环节：1、 晶片pn结到外延层； 2、 外延层到封装基板； 3、 封装基板到外部冷却装置再到空气。半导体元器件通常对
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261630.html2012/1/8 22:26:04
