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无需电解电容和电感的led照明恒流驱动芯片

具的寿命取决于系统整体的寿命。led灯具有三个核心组成部分led灯珠、驱动电源、散热器及结构件。由于热管理问题导致的散热不足会引起led节的上升,从而引发光衰的问题,已逐渐得到业

  http://blog.alighting.cn/117400/archive/2012/3/16/268466.html2012/3/16 13:31:07

城市道路照明检测仪器配置的规划与实践

等设备和器件的电气参数进行测量。三类为安全性能检测仪器,主要有接地电阻测试仪、绝缘电阻测试仪、耐压测试仪、红外线测仪等,主要用于对电气设备的接地电阻、绝缘电阻、介电强度以及电器元件

  http://blog.alighting.cn/117400/archive/2012/3/16/268452.html2012/3/16 13:12:34

地铁车站公共区照明节能设计——光源的选择

果的场所。  一般情况宜采用中色灯管:

  http://blog.alighting.cn/117400/archive/2012/3/16/268450.html2012/3/16 13:11:45

植物补光照明系统应用及对比分析

线可杀死植物。  (3)红外线:波长700~3000nm的光为红外光,约占太阳辐射总量的22%,其中15%被反射,12.5%透过叶片,22.5%被叶片吸收。红外光能提高地和气

  http://blog.alighting.cn/117400/archive/2012/3/16/268435.html2012/3/16 12:56:16

业界陆续开发白光led抑制升、确保寿命的方法

升问题的解决方法是降低封装的热阻抗;维持led的使用寿命的方法是改善芯片外形、采用小型芯片;改善led的发光效率的方法是改善芯片结构、采用小型芯片;至于发光特性均匀化的方法是改

  https://www.alighting.cn/news/20120316/89520.htm2012/3/16 10:58:26

电压法测量led结的原理及热阻测试

功率型led及其灯具的热性能测试,对于led的生产和应用研发都有十分直接的意义。以下将简述led及其灯具的主要热性能指标,电压温度系数k、结温和热阻的测试原理、测试设备、测试内容和

  https://www.alighting.cn/news/20120316/89521.htm2012/3/16 10:50:04

用于lcd背光的led技术进步

着驱动电流和结的升高,led的效率会迅速下降,从而降低亮度,缩短led的寿命。更高的电流将引起结升高,如果不能限制电流,结点将最终因高而发生故障,这种现象有时被称为热逸散。因

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2012/3/15/268383.html2012/3/15 22:02:42

led芯片的技术发展状况

性,提高了芯片寿命。2)键合技术  algainp和algainn基二极管外延片所用的衬底分别为gaas和蓝宝石,它们的导热性能都较差。为了更有效的散热和降低结,可通过减薄衬底或去

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2012/3/15/268364.html2012/3/15 21:57:37

剖析:led照明产业热、市场冷现

被led吸收产生为热能导致结升高,同时降低内量子效应,这应该是led整体发光效率仅达到传统照明一般水平的原因所在。因此,找到两者的平衡点是实现科学发光效率的有效途径。而led发光效

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2012/3/15/268362.html2012/3/15 21:57:31

提高取光效率降热阻功率型led封装技术

装形式,将会因为散热不良而导致芯片结迅速上升和环氧碳化变黄,从而造成器件的加速光衰直至失效,甚至因为迅速的热膨胀所产生的应力造成开路而失效。  因此,对于大工作电流的功率型le

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