检索首页
阿拉丁已为您找到约 34393条相关结果 (用时 0.0212508 秒)

一种集成封装支架

其特征在于:所述的凹槽之间的间隔为0.1-20mm.  说明书  技术领域  本实用新型涉及一种led集成封装支架,主要用于大功led的集成封装,属于半导体照明领域。  背景技

  http://blog.alighting.cn/cookie/archive/2010/10/15/107068.html2010/10/15 16:33:00

市面所售主流大功led价格分析

目前国内市场上销售的大功led品牌很多,品质也参差不齐,本问对市面上销售的主流大功led进行一下价格比对。

  https://www.alighting.cn/news/20081015/V17580.htm2008/10/15 11:15:24

大功led散热的改善方法分析

考虑热导与散热方式的影响,使用大型有限元软件ansysl0.0 模拟并分析了大功led 热分布。通过分析不同封装、热沉材料及散热方式对led 热分布与最大散热能力的影响,指

  https://www.alighting.cn/2013/3/19 11:44:21

大功半导体灯的驱动方法及热设计

制造大功半导体灯既可以用大功发光管也可以用小功发光管。但不管是用大功管还是用小功管,技术关键都是要解决好电源变换问题和灯体的散热问题。下面分别给出用大功发光管和用小功

  https://www.alighting.cn/news/20110921/90082.htm2011/9/21 15:17:05

大功led在照明灯具设计中需解决的问题

本文通过对大功led在城市照明灯具设计应用中遇到的实际问题的详细分析,结合led领域的技术现状和行业特性,讨论了led灯具设计时拯待解决的系列问题,特别是对制约灯具发展的散

  https://www.alighting.cn/resource/2013/9/26/165257_95.htm2013/9/26 16:52:57

多芯片封装大功led照明应用技术

本文针对芯片封装大功led照明应用技术的特点,及采用这一技术获得一些成果进行描述。

  https://www.alighting.cn/2011/9/15 14:27:26

大功发光二极管可靠性和寿命评价试验方法

般采取加速实验的方法来测试推导led寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价led寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功led可靠性,

  https://www.alighting.cn/2013/5/29 10:20:47

大功led散热封装的研究

随着led器件功的不断增加,散热问题变得尤为突出,国内外都认为这是led发展前进道路上亟待突破的一个关键技术。为此,各个产家和研发机构都采取了不同的封装方式来解决,但总存在着热

  https://www.alighting.cn/2011/12/16 14:52:06

多芯片封装大功led照明应用技术(图)

由于led光源具有发光效高、耗电量少、使用寿命长、安全可靠性强,有利于环保等特性,近几年来在城市灯光环境中得到了应用。

  https://www.alighting.cn/resource/2009728/V20383.htm2009/7/28 10:47:07

多芯片封装大功led照明应用技术(图)

由于led 光源具有发光效高、耗电量少、使用寿命长、安全可靠性强,有利于环保等特性,近几年来在城市灯光环境中得到了应用。

  https://www.alighting.cn/news/2009728/V20383.htm2009/7/28 10:47:07

首页 上一页 21 22 23 24 25 26 27 28 下一页