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本文档为半导体照明全程设计和优化解决方案，其中涉及到参数特性设计，优化实际测量，评价等。
https://www.alighting.cn/resource/20110513/127614.htm2011/5/13 17:29:19
传统的 led 及其模块光、色、电参数检测方法有电脉冲驱动,ccd 快速光谱测量法,也有在一定的条件下,热平衡后的测量法,但这些方法的测量条件和结果与led 进入照明器具内的实
https://www.alighting.cn/resource/20101126/128191.htm2010/11/26 18:06:04
电气安全性能的测量仪器在当代科学技术的迅速发展，各种电器、电子设备全面进入社会生活各个领域，成为社会文明进步的重要标志。
https://www.alighting.cn/resource/20150723/131211.htm2015/7/23 10:05:45
计解析软件lighttools，led照明光源模型设计和仿真；lighttools设计和优化，led背光制作顺序的介绍；性能评价?实际测量，背光的和性能评价和实际测
https://www.alighting.cn/resource/2011/7/13/165611_39.htm2011/7/13 16:56:11
本文针对led的特性，分析了现有的led总光通量精确测量方法和设备的优点与不足，介绍了几个国际著名实验室在总光通量测量领域的新进展，同时详述了我国实现led总光通量基准测量的方
https://www.alighting.cn/resource/20081117/V17948.htm2008/11/17 11:19:33
《麻省理工：eo-1杂散光分析报告》1、概要；2、测量brdfs及brdf模型；3、预测的tis，mtf的退化，杂散光；4、 tracepro模拟和杂散辐射现场整合；5、 edg
https://www.alighting.cn/resource/2011/8/12/152426_76.htm2011/8/12 15:24:26
叙述了利用动态电学测试方法测量高功率led热阻和结温的原理、试验装置、测量步骤和影响测试结果的因素.研究结果表明,该方法具有测试结构简单、稳定性高等特点,可作为高功率led热阻和
https://www.alighting.cn/resource/20130422/125686.htm2013/4/22 17:24:14
拟和统计 .通过测量实际样品 ,并与模拟结果进行比较和分析 ,表明计算机模拟值与实验测量值比较吻
https://www.alighting.cn/2013/3/28 11:00:57
led测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列，例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管led的测试一般包含电气和光学测量，本文着重探讨电气特
https://www.alighting.cn/resource/20120813/126466.htm2012/8/13 17:53:00
本文为陶显芳先生所做的关于《雷电及esd防护与emi和emc设计》的演讲讲义，文中涉及到累点和静电的产生，带点物体的电容，电子线路中的电磁干扰，传到干扰测量原理，emi辐射测量原
https://www.alighting.cn/2012/4/13 15:44:10
