检索首页
阿拉丁已为您找到约 29552条相关结果 (用时 0.013387 秒)

浅谈led照明电器的检测与认证

件;除非每个连接处至少有两颗,自攻螺钉不能用于提供接地连续。  怎样判断哪些部位的玻璃或半透明罩需按易碎部件的要求进行冲击试验?  判断移除这些部件后,灯具的ip防护等级是否降低

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230136.html2011/7/19 0:04:00

浅谈led照明电器的检测与认证

簧垫圈),自攻螺钉不能用于连接载流部件;除非每个连接处至少有两颗,自攻螺钉不能用于提供接地连续。  怎样判断哪些部位的玻璃或半透明罩需按易碎部件的要求进行冲击试验?  判断移除这

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261367.html2012/1/8 20:22:00

led芯片寿命 试验方法

的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。 1、引言 作为电子元器件,发光二极

  http://blog.alighting.cn/tyqtyq/archive/2009/5/16/3426.html2009/5/16 18:50:00

led芯片寿命试验

的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。   1、引言   作为电子元器件,发光二极

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确的因素,保证了寿命试验结果的客观和准确。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

首页 上一页 233 234 235 236 237 238 239 240 下一页