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LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143403.html2011/3/17 21:38:00

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

LED产品质量分析和判断的杠杆

半导体发二极管(LED)因其体积小、定向发射、高亮度、pn结电特性等特点,从而在品质的评价和检测方法方面产生许多新的问题。不同的应用场合,决定了对LED产品的性能要求。从

  http://blog.alighting.cn/1133/archive/2007/11/26/8076.html2007/11/26 19:28:00

“十五”国家科技攻关计划“半导体照明产业化技术开发”项目进展情况

国内在正装及倒装功率型芯片、透明电极、功率型LED封装等方面形成一些关键技术突破,如1×1mm2功率型芯片发功率达到60mw,达到国外2000年水平,已封装出20lm/w白

  https://www.alighting.cn/news/20040608/102580.htm2004/6/8 0:00:00

LED兴起是否意味着ccfl的淘汰?

量一般,但是其发效率可达到50~100流明/瓦,而白LED件在刚起步时发效率仅为20lm/w甚至更低。不过,白LED的发效率以每年提高60%的幅度提升,到目前为止,白

  http://blog.alighting.cn/hnqunying/archive/2010/5/31/47007.html2010/5/31 14:37:00

LED照明适用范围及应用领域

密,设计成本过高,失去节能效果。因此,现阶段装饰用途场合,LED照明灯具完全可用,大面积室内照明还不成熟。 二、LED照明应用领域: 1)、信号指示应用:信号照明是LED单色

  http://blog.alighting.cn/chlhzm/archive/2012/10/11/292909.html2012/10/11 17:11:54

方大集团中标沈阳户外全彩LED显示屏工程

这也是继上海花旗银行大厦LED大型彩显幕墙、北京凤凰城LED大型彩显幕墙、沈阳星摩尔购物广场LED系统工程后,方大参与建设的又一较大型LED工程。

  https://www.alighting.cn/news/20110914/115708.htm2011/9/14 9:25:21

日厂三菱电机将大幅强化旗下的LED照明事业

三菱的战略是着重于生产在办公室、店铺、工厂、商业设施等地的LED照明,LED源、LED灯泡与LED灯具并进,计划在2012年度推出800款机种,2015年时达到1,500款机种。

  https://www.alighting.cn/news/20100623/118861.htm2010/6/23 0:00:00

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