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2012年LED照明细分市场投资策略报告

LED照明仍是LED增长的主要驱动力,液晶电视LED照明将是最大亮点。中国液晶电视LED照明机会多多。

  https://www.alighting.cn/resource/2012/9/20/165841_85.htm2012/9/20 16:58:41

文化”理念的产生与实践

摘要:本文论述了“文化”理念产生的深远意义、理论依据及实践基础。指出“先进文化的前进方向”,是提出“文化”理念的理论依据;“文化”植根于城市景观照明灯建设,城市景观照明灯

  http://blog.alighting.cn/1090/archive/2008/9/8/9054.html2008/9/8 10:49:00

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261360.html2012/1/8 20:21:41

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143401.html2011/3/17 21:37:00

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/beebee/archive/2011/3/17/143403.html2011/3/17 21:38:00

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/moonvia/archive/2011/4/19/166241.html2011/4/19 22:31:00

LED寿命试验法

件的衰老化的因素复杂,LED灯控制可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261361.html2012/1/8 20:21:43

el、ccfl及LED三种背源对比分析

件。   目前背源主要有el、 ccfl及LED三种背源类型,依源分布位置不同则分为侧式和直下式。随着lcd模组不断向更亮、更轻、更薄方向发展,侧式ccfl式背源成为液

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/9/126779.html2011/1/9 21:16:00

LED产品质量分析和判断的杠杆

半导体发二极管(LED)因其体积小、定向发射、高亮度、pn结电特性等特点,从而在品质的评价和检测方法方面产生许多新的问题。不同的应用场合,决定了对LED产品的性能要求。从

  http://blog.alighting.cn/1133/archive/2007/11/26/8076.html2007/11/26 19:28:00

“十五”国家科技攻关计划“半导体照明产业化技术开发”项目进展情况

国内在正装及倒装功率型芯片、透明电极、功率型LED封装等方面形成一些关键技术突破,如1×1mm2功率型芯片发功率达到60mw,达到国外2000年水平,已封装出20lm/w白

  https://www.alighting.cn/news/20040608/102580.htm2004/6/8 0:00:00

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