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于1998年推出的Luxeon 照明，其结构如图1所示。这种结构，芯片直接粘结于铜底座上。但这样的封装结构对于使用者来说，面临一个困难──如何固定？ 之后出现了如图2所示的封装结
http://blog.alighting.cn/wenlinroom/archive/2010/5/30/46666.html2010/5/30 6:30:00
压击穿值在4000伏以上,在大部分电子设备中有绝缘要求都可以使用.工艺厚度0.5mm~5mm不等,每0.5mm一加,即0.5mm 1mm 1.5mm 2mm一直到5mm,特殊要求可增
http://blog.alighting.cn/wenlinroom/archive/2010/5/30/46665.html2010/5/30 6:26:00
国的建筑设计现状感到惋惜。 我对建筑设计的常识以及中华传统艺术文化的了解是非常的浅显，但对时下建筑设计缺乏中华传统文化的现状有着自己的观点，如下： 1、 中国虽是有五千余年的文
http://blog.alighting.cn/syrupy/archive/2010/5/29/46659.html2010/5/29 22:45:00
试验直指 试具11 直型试验指基本简介:1.根据gb4706.1、gb/t16842、gb2099.1及相关iec61032,uL等相应条款制作而成。 2. 试验直指是进行家
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46627.html2010/5/29 15:05:00
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46626.html2010/5/29 15:04:00
试具1 试验钢球产品概述：符合gb/t16842、iec61032等标准要求.本试球用以检验防止直径大于等于50mm的固体异物进入设备内部钢球规格 ：auto-109a：直径5
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46624.html2010/5/29 15:02:00
试具d d类试验探棒（d类试验探针）基本简介： 1、根据gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及uL等相应条款制作而成。2、d类试验探
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46622.html2010/5/29 15:01:00
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46623.html2010/5/29 15:01:00
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46621.html2010/5/29 15:00:00
试具c c类试验探棒（c类试验探针）基本简介：1、根据gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及uL等相应条款制作而成。2、c类试验探
http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/5/29/46620.html2010/5/29 14:59:00
