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大光量更加速封装材料的劣化，根据业者测试结果显示连续点灯不到一万小时，高功率白光 led 的亮度已经降低一半以上，根本无法满足照明光源长寿命的基本要求。 有关 led 的发光效
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271743.html2012/4/10 23:30:37
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271742.html2012/4/10 23:30:28
d芯片上p-n两个电极的位置相距拉近，令芯片发光效率及散热能力提高。而最近已有大功率led的生产，就是利用新改良的激光溶解（laser lift-off）及金属黏合技术（meta
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271741.html2012/4/10 23:30:25
f = 20ma下测试其电特性测。因此，为了得到预知的和匹配的亮度与色度，建议采用恒流驱动(courtesy nichia corporation)。图4给出了四种常用的电源电
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271739.html2012/4/10 23:30:19
明市场，显示或指示用的传统led产品参数检测标准及测试方法已不能满足照明应用的需要。国内外的半导体设备仪器生产企业也纷纷推出各自的测试仪器，不同的仪器使用的测试原理、条件、标准存
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271728.html2012/4/10 23:29:39
1,cree 著名led芯片制造商，美国cree公司，产品以碳化硅(sic)，氮化镓(gan),硅(si)及相关的化合物为基础,包括蓝,绿,紫外发光二极管(led),近紫外激
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271716.html2012/4/10 23:24:02
灯的显色指数定义为100，视为理想的基准光源。此系统以8种彩度中等的标准色样来检验，比较在测试光源下与在同色温的基准下此8色的偏离（deviation）程度，以测量该光源的显色指
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271715.html2012/4/10 23:23:59
锥一致。为了被免杂散 光的影响，极坐标光度计应安置在黑房中。 6.2角分布光度计 泛光灯具，透光灯具，汽车前灯和其他聚光类灯具，它们因聚光，故 测试距离应远大于散光
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271708.html2012/4/10 23:23:34
多数情况都是通过测试或者实际应用，才能发现 led 器件已受静电损伤。2 、潜伏性 : 静电放电可能造成 led 突发性失效或潜在性失效。突发性失效造成 led 的永久性失效：短
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271706.html2012/4/10 23:23:29
法有： 1.做好焊接制程的控制。 2.对产品进行老化测试。 老化是电子产品可靠性的重要保证，是产品生产的最后必不可少的一步。led产品在老化后可以提升效能，并有助于后期使用的效
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271705.html2012/4/10 23:23:26
