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法，在同一试验成本下，使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中，先对试验样品进行光电参数测试筛选，淘汰光电参数超规或异常的器件，合格者进行逐一编号
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48
题作出了分析，并培出了延长其使用寿命的解决方案，最后通过低功耗集成IC的大量使用，使系统达到静态低功耗和稳定使用的目
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271769.html2012/4/10 23:32:23
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271767.html2012/4/10 23:32:16
起, 2003年有超过一千七百万颗IC用在手机显示上.今年,oled也开始应用在手机的主显示屏上。oled在手机显示上的应用正取得腾飞性的增长, 预计今年oled模块的使用数量将超过
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境温度为60℃因此路灯散热系统温升必须小于δt≦15℃，以本公司150wled路灯为例热传散热系统温升测试低达δt≦12~15℃，计算其热阻值tr=0.08~0.1℃/w，而一般设
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271764.html2012/4/10 23:32:04
体（encapsulating polymers）造成影响。 仅管一些测试显示，在晶粒（die）的型式下， 即使电流高到130ma仍能正常工作；但采用一般的封装后，led只能在20ma的条件下发
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271763.html2012/4/10 23:32:00
能可能会、也可能不会集成在驱动器中。这在工厂测试中可能会成为一个问题，因为显示屏在某些测试步骤中可能还未被安装。此外，评估产品开启时的浪涌条件也很重要，因为此间大量的电流消耗可能将电
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271762.html2012/4/10 23:31:50
光的基本工作是非常简单的，但是在现有设计上要产生高性能电源和电流控制解决方案就非常困难。在这些应用中，没有专门的电源IC来解决上述问题的话，电池寿命仍会受到损失。凌特公司的lt
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271760.html2012/4/10 23:31:42
摘 要:用同种ｇａｎ基led外延片材料制作了不同尺寸和电极位置的芯片，测试比较了它们的ｉ－ｖ特性和ｐ－ｉ特性。结果表明：ｇａｎ基led芯片在２０ｍａ以下的ｉ－ｖ特性和ｐ－ｉ特性
http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271756.html2012/4/10 23:31:25
关重要。一般来说，led的人体静电模式测试失效电压不应低于2000v。3、 衰减特性 红、绿、蓝led均具有随着工作时间的增加而亮度衰减的特性。led芯片的优劣、辅助物料的好坏及封
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