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背光源(backlight)的起源发展及分类

%,可说是lcd模块中相当重要的零组件。高精细、大尺寸的lcd,必须有高性能的背光技术与之配合,因此当lcd产业努力开拓新应用领域的同时,背光技术的高性能化(如高亮度化、低成本化、低

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229972.html2011/7/17 23:42:00

led照明灯发展概况

区,同样适合于城镇(在国外,主要依靠大量安装屋顶并网系统来发展太阳能光电产业)。目前我国已能生产成套适合牧区人民应用的白光led照明系统,其结构框图如图1所示。在一些城市也采用太阳

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230082.html2011/7/18 23:23:00

led技术标准和检测方法

究还不能满足我国产业发展的需求。在led照明产品检测技术和产品标准方面远远不能适应我国led照明工业发展的要求。我国led照明的发展,首先应当建立和健全我国led照明器具的技术标

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230098.html2011/7/18 23:44:00

led检测认证全面解决方案

构dekra德凯达与中国最大的综合型非政府检测机构cti华测成立的合资公司,充分融合了dekra的全球资源和cti华测的本土化优势,长期以来一直非常关注led产业的发展和全球各国市

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230103.html2011/7/18 23:47:00

led芯片/器件封装缺陷的非接触检测技术

1、引言  近些年来,随着制造成本的下降和发光效率、光衰等技术瓶颈的突破,我国的led照明产业进入了加速发展阶段,应用市场迅速增长,这导致了led封装产品的巨大市场,催生出了成

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230108.html2011/7/18 23:49:00

日本《照明用白色led测光方法通则》

在附属部分而非实际标准的一部分,不过,其在相关规范的说明仍十分详细,就现阶段国际所能查到的led标准文献,此标准可说是内容最完整的规范。在目前产业界仍然缺乏适当的通用led测量规范情

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230113.html2011/7/18 23:51:00

led芯片封装缺陷检测方法研究

对led芯片的检测、阻断存在缺陷的led进入后序封装工序,从而降低生产成本、提高产品的质量、避免使用存在缺陷的led造成重大损失就成为led封装行业急需解决的难题。目前,led产

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230114.html2011/7/18 23:52:00

led 灯具标准体系建设研究

[2]。二、在制订上述标准中一些基本看法和掌握原则灯具是与人类活动和社会发展息息相关的一个产业,规范它的质量水准是一件涉及国计民生的重要事情,因此在以往的标准制订过程中始终贯彻以

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230118.html2011/7/18 23:54:00

led照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策

准和检测方法的制订越及时,就越能减少产品研发过程的盲目性。led 照明产业发展到现在,我们对led 照明产品标准和检测方法的回顾、小结的时候已经基本到来。  二、 led 模块的光电参

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230132.html2011/7/19 0:00:00

日本白光led测量标准介绍分析

慎的心态,有许多部分仍然是被放在附属部分而非实际标准的一部分,不过,其在相关规范的说明仍十分详细,就现阶段国际所能查到的led标准文献,此标准可说是内容最完整的规范。在目前产业界仍

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