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施）；失效前开关次数大于或等于15000次（额定寿命30000小时）或大于等于额定寿命以小时计算的二分之一；启动时间小于0.5秒；至95%光通量所需时间小于2秒；早期失效率小于或等
http://blog.alighting.cn/122599/archive/2013/5/10/316917.html2013/5/10 14:28:26
损率大于或等于0.9，（因为测试时间较长，该项要求从2014年3月1日实施）；6000小时光通量维持率大于或等于0.8（因为测试时间较长，该项要求从2014年3月1日实施）；失效
http://blog.alighting.cn/13129578758/archive/2013/6/26/319954.html2013/6/26 9:59:21
日实施）6000小时光通量维持率大于或等于0.8（因为测试时间较长，该项要求从2014年3月1日实施）失效前开关次数大于或等于15000次（额定寿命30000小时）或大于等于额定寿
http://blog.alighting.cn/122599/archive/2014/5/19/351941.html2014/5/19 21:26:17
期失效(年损坏率约为0.3%-0.5%)。二：管材在风吹雨淋中的损坏(年损坏率约为1%-3%)，三：管内空气中水份及酸碱性物质对器件的侵蚀造成的损坏(年损坏率约为3%--10
http://blog.alighting.cn/lielang/archive/2008/10/26/34638.html2008/10/26 9:45:00
灯都要加测该标准。iec/en 60825-1报告现在还可以用，用做过度期, 但是到2010年9月就会完全失效。所以企业需要注意按新标准iec 62471检测认证,以大大节约时
http://blog.alighting.cn/c702302663/archive/2010/8/10/82249.html2010/8/10 23:03:00
冷地区的推广应用，需解决以下几个方面的关键技术问题。 一、冷热冲击的温度变化可能引起led器件的失效 由于led芯片封装后，属于固态的实心器件，存在着芯片、硅胶(或树
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2010/12/8/118984.html2010/12/8 13:38:00
术问题。 一、冷热冲击的温度变化可能引起led器件的失效 由于led芯片封装后，属于固态的实心器件，存在着芯片、硅胶（或树脂）、金属支架以及引线之间膨胀系数的失配现象，加上寒
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127019.html2011/1/12 16:32:00
定的实用价值。这种电筒由于使用时间不多，常常是存放起来临时使用，因此最好采用密封较好的碱性电池(一般可以存放两三年不致失效)，不要用普通碳性电池，以免长时间不用会流出电解液而损坏手
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/1/12/127083.html2011/1/12 17:21:00
下几个方面的关键技术问题。 冷热冲击的温度变化可能引起led器件的失效 由于led芯片封装后，属于固态的实心器件，存在着芯片、硅胶(或树脂)、金属支架以及引线之间膨胀系
http://blog.alighting.cn/zaqizaba/archive/2011/6/19/222111.html2011/6/19 23:28:00
/ w,新的大功率芯片若采用传统式的led 封装形式,将会因为散热不良而导致芯片结温迅速上升和环氧碳化变黄,从而造成器件的加速光衰直至失效,甚至因为迅速的热膨胀所产生的应力造成开路
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229964.html2011/7/17 23:38:00
