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素越来越被大家所认识。导致led使用寿命短的主要原因之一是芯片较长时间处于高温状态，由于驱动电流过大、选用品质较差热阻较大的芯片、导热性能差胶体和管脚，均会使其受热温度过高。led
http://blog.alighting.cn/sztatts/archive/2011/6/22/222661.html2011/6/22 14:53:00
井，欠平衡钻井井控设备技术，高温高压，钻井完井；新技术，钻井平台设备；完成及产业发展（completions and filed development）：完成技术，产业发展，地成
http://blog.alighting.cn/yunyu1982/archive/2011/6/23/226703.html2011/6/23 11:23:00
构和物质），钻铤，钻杆，钻井工具，井口设备，井口工具，目标钻采和扩展井，欠平衡钻井井控设备技术，高温高压，钻井完井；新技术，钻井平台设备；▲完成及产业发展（completions an
http://blog.alighting.cn/zhangpeng0419/archive/2011/6/23/226738.html2011/6/23 14:16:00
靠性2极高的精确度，在进行自动装配时有高度的准确性4因仅有陶瓷和金属构成，故即便在高温，低温环境下亦无渐衰的现象出现，具有较强可靠性与稳定性5低集散电容的特性可完成接近理论值的电
http://blog.alighting.cn/s415998493/archive/2011/6/27/227838.html2011/6/27 10:37:00
板预处理测试，防火测试，稳定性测试，异常操作和故障条件测试…… 产品可靠性测试服务：高温、低温、温度冲击（气态及液态）、浸渍、温度循环、低气压、高低温低气压、恒定湿热、交变湿热
http://blog.alighting.cn/coninliu/archive/2011/6/27/227904.html2011/6/27 17:15:00
将gan芯片和钇铝石榴石（yag）封装在一起做成。gan芯片发蓝光（λp=465nm，wd=30nm），高温烧结制成的含ce3+的yag荧光粉受此蓝光激发后发出黄色光射，峰值55
http://blog.alighting.cn/lanyunsz/archive/2011/7/6/228855.html2011/7/6 17:44:00
要是测试电感的强度，可焊性，再流焊，跌落，碰撞等。一、电感可靠性测试之环境测试1、mil-std-202g method 108a 高温储存试验：a、无明显的外观缺陷b、感值变
http://blog.alighting.cn/yjck168/archive/2011/7/7/228927.html2011/7/7 16:16:00
0小时的高温电解电容,根据通行的电解电容寿命估算公司“每降低10度,寿命增加一倍”,那么它在95度环境下工作寿命为16000小时,在在85度环境下工作寿命为32000小时,在75
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229856.html2011/7/17 22:43:00
要因素是表面 粘着led最早面临的问题是无法完成高温红外线下焊锡回流的步骤。led的比热较ic低,温度升高时不仅会造成亮度下降,且超过摄氏100度时将加速组件 的劣化。led封装时使
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229896.html2011/7/17 23:03:00
度和气氛中易分解和腐蚀。目前,zno半导体材料尚不能用来制造光电子器件或高温电子器件,主要是材料质量达不到器件水平和p型掺杂问题没有得到真正解决,适合zno基半导体材料生长的设备尚
http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229923.html2011/7/17 23:18:00
