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技术洞察-突破inGaN缺陷障碍 积极应用不均匀的结晶结构

洞在没有发光就被撷取了,在二者接合(再接合)时的能量,就会变成热释放出来,所以 GaN、inGaN从基本上来说,几乎不可能作为发光组件的材料。实际上,虽然缺点很多的GaN在室温条件

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/2/20/134126.html2011/2/20 22:58:00

led技术及运用

是开发蓝光led时,碳化矽(sic)与氮化镓(GaN)两大门派之争。这也是许多研发团队辛勤投入开发蓝光led元件时,必须痛苦抉择的两条截然不同的道路。  之前,全球许多大公司皆投

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261392.html2012/1/8 20:27:31

led外延结构的内量子效率的提高方法

叉的位错线是呈现黑色的,可以推断晶格不匹配增加,iqe下降。虽然gaas和inp中晶格匹配和iqe显示很强的关系,但是GaN中这种关系却不明显,这主要是GaN中位错的电学活性很

  http://blog.alighting.cn/174963/archive/2013/4/9/313815.html2013/4/9 9:36:11

led灯具的可靠性

美国ssl计划中规定白光led器件寿命在2010-2015年中为5万小时。国内对led照明灯具的寿命要求一般也提到3~3.5万小时。有关led照明灯具的分类、性能指标及可靠性

  http://blog.alighting.cn/110131/archive/2012/3/27/269505.html2012/3/27 16:45:00

昌辉照明解析led热学指标

时,最好将它的pn结温度保持在100℃以下。 3、防静电指标:做好的led器件要注意防静电。无论是在运输状态,还是在装配过程中,都可能出现静电带来的损坏,要特别注意防静电。一般le

  http://blog.alighting.cn/chlhzm/archive/2013/6/7/318901.html2013/6/7 17:17:21

我在led方面进行的研究介绍

在led应用方面已经进行的研究包括: l 基于GaN基发光芯片的光提取效率问题; l 非成像光学理论在非点光源近似条件下光学系统的设计问题,采用边缘光线二维补偿设计方法,解

  http://blog.alighting.cn/qiankeyuan/archive/2009/2/19/9691.html2009/2/19 12:02:00

高亮度芯片面临的发展瓶颈

现缺陷、裂纹、晶片弯曲等。衬底的质量直接影响着外延层的晶体质量,从而影响光效和寿命。如果采用GaN同质衬底进行外延生长,利用非极性技术,可最大限度地减少活性层的缺陷,使得led芯

  http://blog.alighting.cn/jadsion/archive/2013/3/30/312950.html2013/3/30 9:57:21

如何提高led发光效率的性价比

度降低缺陷密度。采用非极性衬底生长led,可作显示屏、电视、手机等背光源,没有取向性,不要外置扩散片。采用半极性、非极性蓝宝石和GaN衬底生长led的核心技术,已取得突破性进

  http://blog.alighting.cn/188279/archive/2013/8/7/322937.html2013/8/7 9:30:39

led检测:满足产品需求 新应用领域有差距

要问题之一。   led面临主要技术问题   1.电性能   led是pn结发光器件,单向导电特性,具有较高的结电阻,一定的反向漏电流、反向击穿电压;一般需恒流驱动,正向压

  http://blog.alighting.cn/1133/archive/2007/11/26/8014.html2007/11/26 19:28:00

led外延片生长基本原理

学、光学、化学、计算机多学科为一体,是一种自动化程度高、价格昂贵、技术集成度高的尖端光电子专用设备,主要用于GaN(氮化镓)系半导体材料的外延生长和蓝色、绿色或紫外发光二极管芯

  http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120564.html2010/12/13 23:08:00

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